sem可以分析成分吗，SEM成分分析

　　　　sem可以分析成分吗，SEM成分分析

　　　　由于粘土矿物大多具有特殊的微观形貌，利用扫描电镜( SEM对混合样品进行成像分析，往往能快速鉴别样品中的粘土矿物。 溶液状样品直接取样测定，将糊状物、乳膏、粉等固体及半固体样品按样品加纯水9ml的比例准确放入50ml烧杯中搅拌5min，必要时加温至401。

　　　　扫描电镜的成像原理与光学显微镜和透射电镜不同，它以电子束为照明源，用光栅扫描方式对样品照射细小聚焦的电子束，生成与样品性质相关的各种信息，通过采集和处理得到微观形貌放大像。 在SEM上装上波长分散型x射线能谱仪( WDX、能量分散型x射线能谱仪( EDX、能谱仪)后，可以在观察扫描形貌图像的同时，对样品的微观区域进行元素分析。

　　　　一些入射电子称为背散射电子，包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子在内的样品表层几百纳米深范围的能量范围较宽，几十几万电子伏的产量随样品平均原子序数的增大而增大，背散射电子像的对比度与样品位置相对应主要研究手段有利用SEM-EDS进行成分分析、成分信息的合理处理等。

　　　　在失效样品失效点分析、天然聚合物鉴定、纳米材料分析等领域，扫描电镜( SEM起着重要的作用。 本文主要就扫描电镜( SEM在未知成分分析领域的应用与大家分享。 异物分析是未知物成分分析的重要内容之一，通过对异物的成分分析可以快速寻找异物产生的原因，从而有效准确地获得解决方案。

　　　　如图4所示，无明显异物的原纸，主要由植物纤维和树脂组成，其表面没有明显的其他成分。 综上所述，用扫描电镜( SEM光谱对有异物的原纸进行图像分析，可以快速直观地获得异物的相关信息，指导后期异物成分分析方案。

　　　　第八章电子光学基础第九章透射电子显微镜第十章电子衍射第十一章晶体薄膜衍射成像分析第十二章高分辨率透射电子显微镜第十三章扫描电子显微镜第十四章电子背散射衍射分析技术第十五章电子探针显微镜分析第十六章其他显微结构分析方法。 与光学显微镜相比，扫描电镜不仅图像分辨率高，而且景深大，在断口分析方面表现出非常明显的优势。

　　　　世通检测化妆品成分分析测试中心是专门从事化妆品成分分析与测试的科研部门，该中心由多位博士和专家组成，拥有LC-MS/MS、GC-MS、HPLC、SEM、FTIR等仪器。