sem的分辨率是什么，sem图像怎么看

　　　　sem的分辨率是什么，sem图像怎么看

　　　　纤维的切割位置并不都在基体的主裂面上，部分纤维脱离基体后切割位置在基体中，导致断口有大量的露头抽丝，同时也出现纤维抽丝后留下的孔洞。 例： fcc疲劳条纹清晰； bcc、hcp的疲劳条纹不如fcc明显； 超高强度钢的疲劳条纹短而不连续，轮廓不明显，而中低强度钢明显有规则的疲劳条纹。 在晶体结构分析中，背散射电子信号的强弱会导致通道花纹的对比度。

　　　　由于横向扩展的作用体积大小是背散射电子的成像单元，背反射电子的成像分辨率远低于二次电子像。 解理断裂是指由于正应力，原子键被破坏而引起的晶体断裂。 背散射电子能量高，以直线轨迹从试样表面逃逸。 由于背散射电子不被探测器采集而是阴影，背散射电子在图像上呈现出强烈的对比度，对比度过大，细节层次丧失，背散射电子不利于形貌分析。

1、sem的分辨率

　　　　如图12-3(a )所示，电子束进入上偏转线圈时，方向被偏转，然后，由下偏转线圈第二次偏转该方向，两次偏转电子通过物镜的光心照射到试料表面。 这些电子信号由对应的检测器检测，放大、变换成为电压信号，最终发送到显像管的栅极，调制显像管的亮度。

2、sem的分辨率是多少

　　　　极细的高能入射电子撞击样品表面扫描时，受激区域产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续光谱x射线、背散射电子、透射电子、可见、紫外、红外光区产生的电磁辐射。 在上述信号中，最主要的是二次电子，是被入射电子激发的样品原子中的外层电子，在样品表面以下几纳米处产生。

3、sem的分辨率是什么

　　　　值得注意的是，二次电子探测器安装在样品上方的一侧，二次电子图像的亮度不仅与二次电子的发射数量有关，还与能否被探测器检测到有关。 因为束斑的直径是一个成像单元(像点的大小)，所以这两个电子像的分辨率相当于电子束的直径。 利用背散射电子信号进行形态分析时，其分辨率远远低于二次电子。

　　　　对于原子序数信息来说，进入左右两个检测器信号的大小和极性相同； 对于压花信息，两个检测器得到的绝对值相同，其极性正好相反，即将——个样本的原子序数信息与两个检测器得到的信号相加； 通过两个检查得到的信号减去——个样本的浮雕信息。 阴极射线管的电子束在荧光屏上也呈光栅扫描，其扫描运动与样品表面电子束的扫描运动严格同步，从而得到对比度与接收信号强度对应的扫描电子图像，该图像反映了样品表面的形貌特征。

　　　　对于一定的元素，……都有一定的特征值，发射的x射线波长也有特征值，故称为特征x射线。