sem像怎么分析，sem图像怎么分析

　　　　sem像怎么分析，sem图像怎么分析

　　　　首先，扫描电镜照片为灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或表面元素分布观察。 电磁透镜(3)扫描线圈起到提供入射电子束在试料表面上和阴极射线管内的电子束在荧光屏上的同步扫描信号的作用。

　　　　扫描电镜采用这种逐点成像的方法，将样品表面的不同特征依次按比例转化为视频信号，完成一帧图像，使荧光屏观察样品表面的各种特征图像。 为了提高图像质量和进行定量计算，进一步扩大了图像分析和图像处理技术在EPMA和SEM中的应用范围。 因此，典型的数据分析过程应该是确定分析目的收集所需数据组织数据分析数据提出优化意见。

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　　　　近20多年来，扫描电镜发展迅速，又集成了x射线能谱仪、电子探针及其他多种技术发展为分析型扫描电镜，仪器结构不断改进，分析精度不断提高，应用功能不断扩大，成为越来越多研究领域不可缺少的工具

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　　　　波长色散光谱2、分光器( EDS结构和工作原理分光器的主要构成部分如图所示，由探测器、前置放大器、脉冲信号处理单元、模数转换器、多通道分析器、小型计算机及显示记录系统构成，实际上根据背散射电子像的明暗对比判断该区域原子序数的相对高低，可以对金属及其合金进行显微组织分析。 我管理了很多客户，借助我们团队的经验，今天我来谈谈应该如何快速掌握SEM数据分析。

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　　　　一般的二次电子像主要反映样品表面的微观形貌，与自然光反映的形貌基本一致，特殊情况需要对比分析。 景深( depth of field/depth of focus四、样品制备扫描电镜最大的优点之一是样品制备方法简单，对于金属、陶瓷等块状样品，切割成合适的大小，用导电胶

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　　　　背散射电子的产生范围为1000~1 m深，背散射电子的产生额随原子序数的增加而增加，利用背散射电子作为图像信号不仅可以分析形貌特征，而且可以显示原子序数对比度，进行定性的成分分析。 电子进入样品后，作用区为梨形区，与受激信号产生不同的深度2 .分辨率俄歇电子和二次电子由于自身能量低和平均自由程短，只能在样品浅表面内逃逸。

　　　　扫描电镜的应用( SEM .硬质合金金相(扫描电镜SEM材料性能与断裂形貌的关系)利用扫描电镜(结构原理)进行电子断口分析正在断裂分析中。