什么仪器可以获得sem，仪器的仪器

　　　　什么仪器可以获得sem，仪器的仪器

　　　　配合EDX时，可以得到材料的元素组成信息TEM :材料的表面形貌、结晶性。 一般情况下，二次电子在距离样品表层5~10nm的深度范围内发射，对样品的表面形貌敏感，能有效地显示样品的表面形貌。 EDS (电子差动锁)是起步辅助装置，由于电子控制的制动器作用于旋转的主动车轮，可以在差速器上产生反力力矩，因此可以更好地用于发动机输出不打滑的车轮。

　　　　但是，有效作用区域信号不一定全部能够从样品表面逸出，成为能够有效控制的收集信号(样品的信号吸收和散射因各种信号能量而不同)的EIS:EIS是指在电化学交流阻抗谱测定中电极电位、阻抗目前扫描电镜的分辨率为6~10nm，人眼能够分辨荧光屏上相距0.2mm的两个光斑时，扫描电镜的最大有效放大倍率为0.2mm/10nm=20000X。

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　　　　大神明确地告诉我们SEM、EDS、XRD的区别和各自的应用。 SEM(scanningelectronmicroscope扫描电镜工作原理：从电子枪阴极发出直径20~30um的电子束，在阴阳极间加速电压的作用下射向镜筒，经过聚光镜和物镜的聚光作用，产生约几纳米的电子

　　　　其他测试： VSM、EA、TOC、zeta电位计、有机硫卤分析仪、激光粒度仪、工业分析、万能试验机、矢量网络分析仪、四探针原位测试、土壤分析测试。 形态分析可以通过形态图像表征样品的形态、粒径、分散性，可用于蛋白质溶液、植物粉末、生物悬浮液等形态图像的观察，同时也可进行生物膜表面和断口的分析。

　　　　EDS均称为能量色散谱仪，EDS是电镜(扫描电镜、透射电镜)的重要附属仪器，结合电镜可以在1-3分钟内对材料微区的元素分布进行定性和定量分析采用新型的EXB式探测器和电子束减速器功能，提高了图像质量，可以同时进行微区、次区的成分定性和定量及元素分布分析。

　　　　CV:CV曲线可以测量很多信息，包括所需的电沉积电压、电流、半导体行业可以获得直流偏置电压等。 BET :主要是测量材料的比表面积，可以得到材料的比表面积信息。 采集二次电子时，通常在收集器尖端的栅网上施加250V的偏压，使离开样品的二次电子沿弯曲轨道到达收集器，提高了有效的采集立体角。

　　　　可以分析制定区域的元素含量，分析判定工序是否异常。 一般来说，PCB金属板中不含钛元素。 如果是这样的话，管道加热器有可能有点融化了。 或者，有异物被污染的可能性。 否则，为什么元素太多了？