SEM能分辨多少纳米，sem图片怎么确定粒径

　　　　SEM能分辨多少纳米，sem图片怎么确定粒径

　　　　XPS采样深度为2-5nm，EDS采样深度约为1um。 年von Ardenne在透射电子显微镜的TEM上安装扫描线圈，建造了STEM。 一般分辨率可达0.1eV-1eV，主要用于获得元素含量，特别是轻元素含量。 电子束亮度高，束斑尺寸小，相干性好，分辨率高，综合分析能力强。

　　　　二战后，英国剑桥大学工程系的Charles Oatley和他的学生McMullan在英格兰建造了他们的第一个SEM，到1952年实现了50nm的分辨率。 然而，由于物镜的焦距长，图像的景深比透射电镜高得多，主要用于观察样品的表面形貌，无法从表面揭示内部结构。 例如只要不破坏聚焦离子束电子束扫描电镜FIB-SEM，就可以多层观察内部结构。

　　　　能量滤波像的结构可以简单地通过棱镜的分光现象来理解，可以选择无法获得能量的光来制作像。 EDAX有两种含义，一种是指x射线能量色散分析法，也称为EDS法或EDX法，很少用ED表示； 二是最早生产谱仪的公司，是美国的EDAX公司。 能量过滤的原理是电子在磁场中的偏转半径因能量(速度)而异) )初中时经常进行的计算是电子的偏转半径在洛伦兹力作用下的问题)，根据位置加上slit，这样就过滤了能量。

　　　　从SEM得到的高景深和高质量的图像是寻找各种材料缺陷和变化的最佳方案。 纳米尺度纳米扫描电镜SEM-20引领纳米世界，帮助用户在纳米微观世界研究中保持优势，为高校和科研机构提供了这种精确、快速的高分辨率台式扫描电镜。 下图显示了BaF2晶体边界的扫描分析示例。 图( a )是BaF2晶界的形态像和线扫描分析的位置，图( b )是沿着图( a )的直线位置的o和Ba元素的分布，在晶界可以看到o的偏析。

　　　　能谱仪利用x射线光子随元素不同特征能量不同的特点进行成分分析，其强度决定元素的含量。 EPMA的结构与SEM大致相似，只是增加了接收记录的x射线的光谱仪。 Photoshop系列可以给SEM图像上色，或删除杂色和扫描点元件。 研究表面活性剂囊泡，大多数文献采用cryoTEM报道，形态清晰，但仅有负染色，囊泡壁清晰可见？

　　　　STEM成像：照明会聚束、成像不相干、结果的累积性、完全不相干接收的情况下，图像的对比度不会因样本的厚度和焦点不足而反转，可以对更厚的样本进行成像。 SE 850 DUV是一种高性能配置的分光椭偏仪，能够在紫外到近红外的光谱波段迅速获得薄膜光学常数(薄膜厚度和折射率、消光系数等)的测量结果。 与光谱探针不同，TEM液氮冷却不是必须的，但它有助于样品周围的真空度，也有助于样品更换后操作状态的恢复。