sem电镜扫描用于什么，sem扫描电镜的优点和缺点

　　　　sem电镜扫描用于什么，sem扫描电镜的优点和缺点

　　　　因为扫描的电子像不是同时被记录下来的，而是被分解成近百万个依次根据这个记录构成的。 直接观察大试样的原始表面：可以直接观察直径100mm、高度50mm或更大的试样，试样形状没有限制，也可以观察粗糙面，省去制作试样的麻烦，实际上可以观察到试样本身物质成分的不同对比度(背散射电子像)

　　　　高分辨率的扫描电子显微镜二次电子像的分辨率达到3nm，超高分辨率的扫描电子显微镜二次电子像的分辨率达到1nm，比光学显微镜的极限分辨率200nm高2个数量级。 对于无导电性或有马赛克的试样，请将导电性胶带贴在试样台上进行观察。

　　　　扫描电镜是一种高清晰度、高分辨率的台式仪器，在许多领域都有应用。 通过样本的表面形貌得到多种数据，通过信号处理方法得到各种图像、特殊的表示方法。 高分辨率的台式扫描电镜不仅可以分析表面形貌，还可以分析元件和成分，用电子通道模式进行晶体学分析。

　　　　一般来说，加速电压越高，电子束的波长越短，理论上，如果只考虑电子束直径的大小，则加速电压越大，聚焦的电子束得到得越小，分辨率提高，但提高加速电压时，a .看不到样品表面的微细结构扫描电镜由于具有上述特点和功能，越来越受到科研人员的重视，用途越来越广泛。 专业维修二手FIB、二手SEM、二手FEM等，FEI电镜、ZEISS电镜。

　　　　可以直接观察直径100mm、高度50mm或更大尺寸的试料，试料的形状没有限制，也可以观察粗糙面，所以没有制作试料的时间，可以真实地观察试料自身物质成分的不同对比度(背反射电子像)。 如果你有电镜的问题，你可以随时通过电话和工程师联系。 扫描电镜( SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的微观形貌观察手段，可以直接利用样品表面材料的物理性能进行微观成像。

　　　　扫描电镜主要用于观察。 包括纳米材料观察、材料断口分析、原始表面直接观察、厚试样观察、各区域细节观察。 扫描电镜除了可以进行表面形貌的观察外，还可以进行成分和元素的分析，以及根据电子通道图案进行结晶学分析，选区的尺寸可以从10m到3m。 $思百检测可提供扫描电镜SEM检测服务，速度快，质量优。 欢迎来样检验！

　　　　扫描电镜的分辨率介于光学显微镜和透射电镜之间，但通过对厚样品的观察比较，透射电镜还采用了镀膜方法，因此镀膜分辨率通常只有10nm，而不是对样品本身的观察。 一般来说，SEM景深比透射型电子显微镜的TEM大10倍，比光学显微镜大100倍。