sem中eds是测什么的，EDS测试是什么意思

　　　　sem中eds是测什么的，EDS测试是什么意思

　　　　SEM、EDS、XRD不同，SEM为扫描电镜，EDS为扫描电镜上微区分析成分的附件——光谱仪，用于材料微区成分元素的种类和含量分析，配合扫描电镜和透射电镜的使用如果成分不均一，只能说明用XRF测定的其微区成分是这样的，其他无法表示。

　　　　纳米粒子的水溶液用TEM表示时，一般以无水乙醇或丙酮为溶剂，超声震荡分散后，落到铜网上，捞起样品，放入样品提取器中，干燥后放入电镜下进行测试。 未来科学技术的发展对各种无机非金属材料特别是特殊的新型材料提出了更高的要求。 伸缩振动是指基团中的原子沿价键方向往复运动，而弯曲振动是指与价键方向垂直的运动(摆动、扭转、切除等)。

　　　　以高能电子( 50-200 keV透过样品，根据样品位置不同，电子透过结晶样品的衍射方向不同，经过之后的电磁透镜的放大，在荧光屏上显示图像； 透射电镜加速电压Ep=100 keV，电子波长为3.7 pm。 假设样品孔隙为圆柱形，根据汞孔隙中表面张力和外加压力的平衡原理，可以得到样品孔径的计算方法。

　　　　与稳态荧光提供平均信号不同，荧光寿命提供激发态分子的信息。 前者可以告诉你发生了什么，后者可以告诉你为什么发生了。 精密测量、逆向零部件清洁度检测可靠性检测产品噪声检测金属/塑料材料检测能力验证SMT及工业CT检测成分分析有害物质分析失效分析仪器校准。 以si(Li探测器为探测器的光谱仪实际上是一套复杂的电子工程装置。

　　　　压汞法是通过施加的压力使汞克服表面张力进入样品的气孔，测量样品的气孔直径和气孔分布。 Tunner等人发展的紫外光电子能谱，其激发源属于真空紫外能量范围，可以在高能( 10(20mev水平上探测价层电子能级的亚结构和分子振动能级的微结构，是研究材料价电子结构的有效方法。

　　　　由于电镜的高压限制，透射电子束一般只能透射几十纳米以下的薄层样品。 TEM的样品厚度优选小于100nm。 太厚，电子束难以透过，分析的图像不清晰，图像不好。

　　　　a称取200g锂正极材料前驱体四氧化三钴，放入500ml塑料试管中，放入试验合格的干净磁铁(磁场强度为6000gs，然后加入纯净水，上下振荡10次后，将试管放入混合器中mapping是指测试时某个区域的元素分布情况(表示元素分布)。