SEM电镜为什么要固定，sem电镜标尺

　　　　SEM电镜为什么要固定，sem电镜标尺

　　　　主要包括表面清洁、固定、漂洗、脱水等过程，基本与透射电镜样品的处理方法相似，但也有特殊之处。 通常组装两组被称为会聚透镜。 顾名思义，会聚透镜是会聚电子束，安装在真空柱中，位于电子枪下方。 像散、对焦是扫描电镜操作中最基本的要求，进行图像观察时应始终保持聚焦和无像散状态。

　　　　扫描电镜图1利用SEM二次电子像，砂岩孔隙充填粘土矿物高岭石，同时可见石英二次生长，高岭石形成晚于石英，鄂尔多斯盆地二叠系下石盒群砂岩( Bar=20 m； 图2SEM二次电子像，砂岩孔隙填充粘土矿物伊利石，扫描电镜焦深比透射电镜大10倍，比光学显微镜大几百倍。

　　　　由于扫描电子图像不是同时记录，而是分解成近百万个像素依次记录构成，因此扫描电子显微镜除了可以观察表面形貌外，还可以分析成分和元素。 中会迅速氧化失效，使用SEM时除了真空外，通常还需要用纯氮气或惰性气体充满整个真空柱。 由SEM机构组成的扫描电镜由真空系统、电子束系统、成像系统三大部分组成。

　　　　在扫描型电子显微镜中，可同时观察试样的视野范围f在F=L/M式中，m为观察时的倍率； l是显像管的荧光屏尺寸。 以下是蔡司ORION NanoFab用于亚10纳米级应用的SEM扫描电镜仪器。

　　　　但是，在扫描型电子显微镜中，工作距离大(也可以大于15mm、焦深大(也可以比透射型电子显微镜大10倍)，试样室的空间也大，因此，试样在三维空间内进行6个国家的自由度运动(即三维空间的平移运动和三维空间的旋转) 之所以使用真空，主要是因为电子束系统的灯丝位于普通大气中。

　　　　成像系统的电子通过一系列电磁透镜汇聚后，击中样品与样品相互作用，产生二次电子、背散射电子、欧洲电子及x射线等一系列信号。 Fortress FIB样品台可复用，样品无需粘胶、橡胶垫或导电涂料等物质即可固定就位； Fortress FIB采样台很薄，可以将全部或部分TEM承载网固定在位置上；

　　　　但是，通过对厚试样的观察比较，由于透射电镜采用复膜方法，复膜的分辨率通常只有10nm，观察并不是试样本身。 扫描电镜/环境电镜的其他应用(1)利用环境电镜可以直接分析含油含水和液体样品，含油样品分析可以动态分析储层中油的变化过程(图5，同时研究液体中固体物质的形态和结构，分析样品的