sem扫描电镜功能有哪些，sem扫描电镜的优点和缺

　　　　sem扫描电镜功能有哪些，sem扫描电镜的优点和缺点

　　　　简介：书写师文库小编为您整理了多个相关的《SEM扫描电镜知识点扫盲报告》。 希望对工作的学习有帮助。 当然，在写真集文库里可以找到更多的《SEM扫描电镜知识点扫盲报告》。 继续扩大电镜工具的应用范围，是充分利用优势功能的便捷途径，始终对样品分析结果的准确性具有积极作用，并在此基础上应用效果得到显著改善。

　　　　20世纪70年代中期，一些材料工作者在扫描电镜下发现背散射电子的衍射现象，这些衍射图样与所测单晶的晶体结构有关，用于材料的结构研究。 根据de Broglie波动理论，电子的波长只与加速电压有关：

　　　　在10 KV加速电压下，电子的波长仅为0.12，远低于可见光的4000100倍，同时电子能量的色散仅为0.2-0.3 eV，因此目前市场上高分辨率的扫描电镜采用的是场发射电子枪，其分辨率为1.1

　　　　直接观察大试样的原始表面(可以直接观察直径100mm、高度50mm或更大的试样，试样形状没有***的限制，也可以观察粗糙的表面，省去制作试样的麻烦，能真实地实现试样自身物质成分的不同对比度背射电子像信号包括样品表面形貌和原子序数的信息，像的对比度既有形貌对比度，也有原子序数对比度。 根据de Broglie波动理论，电子的波长只与加速电压有关：

　　　　前期近20年，扫描电镜主要在提高分辨率方面取得了较大进展，80年代末期，各厂家扫描电镜二次电子像分辨率达到4.5nm。 光圈像差( Aperture diffraction ) :电子束通过小光圈电子束会产生衍射现象，因此可以通过使用大光圈来改善。

　　　　自电镜工具功能优势显现以来，相关行业的研究分析工作将以此为依托，制定专业细致的应用方案。 这是为了在同等条件下容易取得比预期更明显的效果，其中蕴含着SEM扫描电镜的优越性，相信对扩大电镜工具的应用范围有很大的帮助。

　　　　电镜( Scanning Electron Microscope，简称SEM )是一个凝聚了电子光学技术真空技术、微结构及现代计算机控制技术的复杂系统。 向具体应用诉求科学的配置功能和策略，对电子显微镜工具的应用也极为有利，以此为契机转变落后的应用理念，无疑将更容易在复杂的应用环境中脱颖而出。

　　　　场发射电子枪代替普通钨丝电子枪的技术从1968年开始应用，大大提高了该电子枪的亮度，即发射电子的能力，因此可以获得较高的二次电子像分辨率。