sem像怎么元素分析，sem形貌分析是什么

　　　　sem像怎么元素分析，sem形貌分析是什么

　　　　EDS线扫描分析可以得到电子束沿一条线扫描样品，元素含量变化的线分布曲线。 碳的K-C曲线与试样中的每单位体积的a元素的原子数的多寡有关，即与a元素的含量成比例，因此如果在相同条件下测定，则试样中的a元素的x射线强度I与纯a元素(标准试样)的x射线强度ia ) 0之比) a )必须与元素的浓度c相等

　　　　特征是，从不同元素释放的x射线能量(也称为波长)和指纹一样对应元素类型。 EDS的光谱峰中有很多与一种元素对应的峰，这不就说明这种元素的含量很高吗？ Ti元素线扫描分析线90 3.面扫描分析( x射线成像)将电子束在试样表面进行光栅扫描，固定在要测定波谱仪(波、能量)的某元素的特征性x射线信号)波长或能量的位置，此时，荧光体风险

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　　　　半量EDS的氧测定是否准确，轻元素的测定光谱分析是否准确。 高加速电压下SE产量低的36次电子像的对比度为： (1)形态对比度；(2)成分对比度；(3)电压对比度形态对比度的原理样品倾斜角入射电子束表面法线样品倾斜角越大，二次电子产量越大，图像越亮37 (1)分辨率高；(2)景深大，立体感强；(3)主要反映形态对比度

　　　　影响背散射电子产量的因素：样品倾角(4)形貌像和成分像分离(5)背散射电子成分像的主要用途)导电性差的样品形貌观察) BEI优于SEI。 si(Li )探测器探针的结构示意图1 )基本结构和工作原理si ) Li )晶体两端加偏压采集电子空穴对(前置放大器)，转换为电流脉冲(主放大器)转换为电压脉冲(后进)的多路径

　　　　因为阴极射线管中的电子束和镜筒中的电子束同步扫描，所以阴极射线管上各点的亮度根据试料上各点激发的电子信号的强度进行调制。 也就是说，从样品表面上的任意点收集到的信号的强度与阴极射线管屏幕上相应的发光度之间存在一一对应。 度为Ac=100mm，电子束在试样上的扫描宽度As=0.05mm，倍率为2000倍。

　　　　工作条件苛刻、成本高的si(Li )探测器必须始终保持液氦冷却的低温态谱仪的优点。 )峰背低于高分析元素浓度下限值) 0.01% ) )2)能量分辨率高，峰重叠现象少5-10eV。 分辨率是SEM最重要的性能指标，目前钨丝的SEM二次电子像分辨率为3nm~6nm，场发射电子枪：2nm~3nm。

　　　　与光学显微镜相比，扫描电镜不仅图像分辨率高，而且景深大，在断口分析方面表现出非常明显的优势。