sem电镜都能做哪些分析，SEM电镜全称

　　　　sem电镜都能做哪些分析，SEM电镜全称

　　　　返回试样中a元素的相对含量CA与该元素产生的特征性x射线的强度ia(x射线计数)成比例。 CAIA是在相同的电子探针分析条件下，同时测定试样和已知成分的标准试样中的a元素的同名x射线(例如K射线)强度，通过校正计。 SEM扫描电镜工作原理：用细焦电子束扫描(轰击)样品，电子与样品相互作用，激发各种物理信息。 EDS光谱分析是在x射线光子进入探测器后，在Si晶体内激发一定数量的电子空穴对。

　　　　半导体材料中的动力学现象，如扩散和相变具有重要意义，利用扫描电镜跟踪铝薄膜条在大电流密度下的电迁移行为，可以得到有关腔迁移和溶解失效的详细情况。 在影响扫描电镜成像的因素和3.1加速电压控制图像质量的调节过程中，首先考虑电子照明源加速电压的选择问题。 扫描电镜( SEM )是介于透射电镜和光学显微镜之间的观察手段。

　　　　相信大家对SEM扫描电镜已经基本了解了，今天铄思百检小编带来的就是SEM扫描电镜的应用部分介绍。 希望能帮上忙。 材料断口分析：其具有景深大、图像立体、三维形态，从断口形态可以体现材料断口的本质，是材料断口原因分析、事故原因分析及工艺合理性判定等方面的有力手段。

　　　　本文在介绍扫描电镜结构、工作原理及样品制备的基础上，简要概述了扫描电镜在材料表征中的应用，并以碳纳米管为例对图像进行了分析。 利用扫描电镜下特征衍射图谱的变化，可以直观敏锐地看到表面结构状况和晶格结构完整性在不同深度的分布，确定表面损伤程度。 以前，使用钨丝电子枪的扫描电镜分辨率最高可达3.0nm；使用场发射电子枪的扫描电镜分辨率可达1nm。

　　　　能量较高的入射电子入射到样品时，会产生许多自由电子，这些自由电子的90%是来自样品原子外侧的价电子。 带光谱分析的扫描电镜在成分分析时不需要使用标准样品，大大缩短了校正时间，并且可以获得一次光谱分析可以测量的所有元素。 CMS (气质联用)是指气相色谱与质谱联用仪联用的仪器，主要用于分析挥发性有机化合物等成分(目标物质沸点一般最高不得超过300)。

　　　　分辨率不及TEM和AFM (原子力显微镜)，无法观察物质的分子和原子像。 断口形貌观察：用扫描电镜进行材料断口形貌观察，用扫描电镜分析断口的断裂特征、零件内部结构和缺陷，可以判断零件破损的原因。 扫描电镜可以分析器件的尺寸和几个重要的物理参数。 例如，可以修改和调整结深、耗尽层宽度、少子寿命、扩散长度等，也就是器件的设计、工艺。