sem和afm是什么，sem和afm的区别

　　　　sem和afm是什么，sem和afm的区别

　　　　立体显微镜( stereomicroscope )具有一两个内置显微镜的光学系统，每个系统从不同的角度通过反射光观察不透明标本。 这种显微镜一定需要双筒望远镜，从而使观察到的物体能够产生三维空间的立体图像。

　　　　目前，国外已有实验室将SEM与AFM相结合，利用SEM的纳米尺度分辨率和大范围搜索能力，尽快找出并定位进行AFM研究的目标或感兴趣的区域，然后快速实现宏观向原子尺度的迁移和跨越

1、sem和afm作用的区别

　　　　扫描隧道显微镜scanningtunnelingmicroscope ( STM ) Introduction原理经典电子理论)金属体内存在大量自由电子，从经典物理学角度讲，这些自由电子在金属体内的能量分布如图所示。 当针尖与样品面的间隔足够小时( 0.4nm )，在针尖与样品之间施加偏压时，会产生隧道效应，电子穿过势垒，在针尖与样品之间流动。

　　　　单色x射线入射晶体与晶体由原子有序排列成一个细胞的原子间距和入射x射线波长处于同一数量级，不同原子散射x射线相互干涉影响特定方向x射线衍射线位置和强度的空间分布晶体结构密切相关。 SEM和AFM都是目前进行表面分析最常用的手段，但AFM的工作区域选择非常盲目，而且工作区域非常有限，只能在微米尺度范围内扫描，扫描大样本表面非常困难。

　　　　x射线衍射( XRD )的基本原理：单色x射线入射晶体时，晶体由原子有序排列成一个细胞，有序的原子间距和入射x射线波长为同一数量级，不同的原子散射x射线相互干扰，导致特定方向的x射线衍射、衍射线的位置和

　　　　隧道电流I是电子波函数叠加的量度，与针尖和样品之间的距离s和平均功函数有关。 Vb是针尖和样品之间施加的偏置电压，a是常数，真空条件下约等于1。 二是通过扫描试样的表面，按点进行检测，得到表面的微观形态的信息，这种检测方法的代表是表面轮廓仪和扫描电子显微镜( SEM )

　　　　STM可以在加工过程中对表面实时成像观察表面形貌，寻找各种结构缺陷和表面损伤。 表面沉积和蚀刻方法在建立或切断电线，消除缺陷，达到修复的目的时，也可以用STM图像检查结果是好是坏。 应用上比较，SEM扫描范围宽，为数mm mm，景深宽，但典型的AFM技术的最大扫描范围为100 m 100 m，景深为数微米。