为什么用sem检测材料，SEM是什么检测

　　　　为什么用sem检测材料，SEM是什么检测

　　　　与费时难保证的传统手工测量相比，纤维统计分析测量系统大大节省了用户的时间和精力，能够测量和分析样品的纤维直径差异。 块体检测在结构可靠性鉴定中起着非常重要的作用，其结果是可靠性鉴定的重要参考因素之一，检测结果也是结构加固的重要参考。

　　　　内层的电子被打出时，原子处于能量较高的激发态，外层的电子迁移到内层填补内层的空穴。 发射特性x射线释放额外能量发生在样品表层约1m深的地方，其能量或波长与样品中元素的原子序数存在对应关系，其强度随相应元素含量增加而增大的特性x射线主要用于材料微区成分的定性和定量分析。 度为Ac=100mm，电子束在试样上的扫描宽度As=0.05mm，倍率为2000倍。

　　　　相关标准和技术规范对预制混凝土梁所用材料、物理性能、力学性能及存放周期等有要求，为确保桥梁工程建设的安全性也需要对预制混凝土梁进行相关技术检测。 根据其先进的工作原理，在建筑材料检测领域，可以用扫描电镜进行多种形式的图像观察、元素分析、晶体结构分析、三维形貌观察与分析、纳米材料和金属材料等建筑材料断口分析，在观察样品形貌的同时，结合光谱仪进行建筑材料微区成分分析

　　　　吸收电子像主要用于定性分析材料的成分分布和显示相的形状和分布。 填补内层空穴时，不是以发射特征性x射线的形式发射多余的能量，而是向外发射外层的其他电子。 俄歇电子产生于样品表层约1nm深处，其能量与样品中元素的原子序数存在对应关系，能量较低，一般在50~1500eV范围内其强度随对应元素含量的增加而增大的俄歇电子主要用于材料极表层的成分定性和定量分析

　　　　扫描电镜分辨率高低与检测信号类型有关，不同信号在样品中产生的深度范围不同，见表13-1。 扫描电镜的成像原理与透射电镜完全不同，它不是利用电磁透镜聚焦成像，而是利用细聚焦电子束扫描样品表面，由探测器接收各种受激物理信号形成调制图像。

　　　　1个空穴对产生的平均能量是恒定的，但低温下平均为3.8ev。 另一方面，由于1个x射线光子产生的空穴对的数量为N=E/，因此入射到x射线光子的能量越高，n越大。 由于并非所有SEM用户都只需要一种信息类型，因此多探测器特性使SEM成为为许多不同APP应用提供有价值的解决方案的通用工具。 上一篇：工业CT检查与X射线无损检查的区别及相关下一篇：零件的检查需要进行哪些项目？

　　　　扫描电镜检测，试样应具有良好的导电性能。 这主要是因为导电性差的试料产生电荷效应，引起图像失真、点亮线、像散等。