sem一般能看多大的像，sem尺寸

　　　　sem一般能看多大的像，sem尺寸

　　　　这类调制结构可以是结构性调制、分量调制和磁结构性调制。 根据入射电子束照射到试样表面弹性散射，部分电子损失的能量值是试样中某些元素的特征值，得到能量损失谱( EELS )，可以用EELS分析薄试样微区的元素组成、化学键、电子结构等。 另外，晶体自身的结构特征也出现在电子衍射图案中，因此有序相等电子衍射图案具有自身的特征，另外，二次衍射等使电子衍射图案更加复杂。

　　　　透射电镜样品必须在高真空中检测，水溶液中的纳米粒子不能直接测定。 EDAX有两种含义，一种是指x射线能量色散分析法，也称为EDS法或EDX法，很少用ED表示； 二是最早生产谱仪的公司，是美国的EDAX公司。 喷金时与喷头正对的平面金粒子最多，也是电子显微镜观察到的区域，侧面应该很少或很少，所以喷金时一般用铝箔包裹周围的侧面以提高导电性。 六方晶系需要用四轴指数标定，一般晶系如立方、正交等可以用三轴指数。

　　　　对于衍射强度弱、寿命短的高分子样品，曝光时间长还是短？ 将dv调节为0，在z轴上调节样本的高度，使imagex的抖动最小化即可。 beam stopper主要是为了遮挡过亮的中心透射斑，使周围的弱衍射斑也能清楚地显现出来。 用扫描电镜观察试样氧化层的厚度，如果是玻璃或陶瓷等可以直接劈开观察截面的金属材料，切割时样品的结构可能会发生变化，我们来看看是什么材料的氧化层。

　　　　扫描电镜除了可以进行表面形貌的观察外，还可以进行成分和元素的分析，以及根据电子通道图案进行结晶学分析，选区的尺寸可以从10m到3m。 HAADF的特点是，除了收集角度高外，收集灵敏度还大大高于普通的ADF探针。 颗粒越小，越能找到边缘较薄的区域使其具有高分辨率，有利于损害光谱分析的颗粒越大，晶体越容易向带轴倾斜，如进行衍射分析。 X-光的计数也很高。

　　　　新切断的切断口和截面一般不需要在不破坏切断口和表面的结构状态的情况下进行处理。 高分子溶液甩膜在光滑玻璃上(玻璃经plazmaoruv ozon处理)，成膜后立即放入水中(需加热干燥才能取下)，利用水的张力，用塑料镊子将薄膜和玻璃从边缘切开

　　　　使用2010年透射电镜发现，当brightness聚集时，按imag x会出现两个不同心的圆，调整foucs时DV不为零。 XPS采样深度为2-5nm，EDS采样深度约为1um。