sem测元素为什么都有c，sem能测什么元素

　　　　sem测元素为什么都有c，sem能测什么元素

　　　　为了解决该问题，即改善二次电子像对比度，如图12-11(a所示，对有电子检测器的法拉第屏蔽件施加200~500V的正偏压，吸收二次电子，背向检测器的二次电子的相当大的部分弯曲轨迹

　　　　入射电子照射固体样品，样品内原子的内层电子被激发后，原子从基态变为激发态，外层电子向内层电子空位方向跃迁，在能级跃迁过程中可以直接发射出具有特征能量和波长的x射线，称为特征x射线。 c .热机时间短(约5分钟)2)缺点： a .一次只能分析一种元素，分析速度慢b .每个元素需要更换专用灯。 B、轻元素( Be、o、n、c等)产生俄歇电子的概率比重元素高。

　　　　测定锡球的成分时，C、o元素分别占20%~30%，Sn、Ag、Cu的成分较低，可以理解为锡球因此被氧化了吗？ 但背散射电子像的分辨率低于二次电子像； 背散射电子能量较高，只能检测出离开样品表面沿直线轨迹运动、射向探测器的背散射电子，背对探测器区域产生的背散射电子无法到达探测器，结果在图像上产生阴影，掩盖了这些部分的细节。

　　　　从Li Be B C N O F Ne可以看出，该列元素存在难以测定的理论缺陷。 EDS理论上可以测定C-元素，但由于采用的是比较计算的模型，这一结果几乎不能说明问题，如果区域之间存在很大差异，只能通过线扫描和面扫描来看趋势！

　　　　对于原子序数信息来说，进入左右两个检测器信号的大小和极性相同； 对于压花信息，两个检测器得到的绝对值相同，其极性正好相反，即将——个样本的原子序数信息与两个检测器得到的信号相加； 通过两个检查得到的信号减去——个样本的浮雕信息。 特征x射线的波长和原子序数有一定的关系，测量这些特征谱线的波长或能量可以进行定性分析； 通过测定谱线的强度，可以求出其元素的含量。

　　　　对于光滑均匀的无限厚试样，分析线强度是分析元素浓度的函数； 对于平滑均匀的厚度小于阈值( x射线能够透过的最大厚度，即饱和厚度)的试样，分析线强度是分析元素浓度和试样厚度的函数。 原子吸收分光光度计是将试料原子用原子化器蒸汽化后，吸收某一特定波长的光，该光来自空心阴极灯，由光学系统分光后用单光器过滤，只有需要测量的波长的光才能进入传感器。

　　　　与我公司工艺产品相关，有Desmear后蜂窝结构的确定、各工艺后的表面情况等。 楼上的engle028说的是肯定的。 不能进行c元素的定性分析。 你觉得呢？