sem的峰代表什么

　　　　sem的峰代表什么

　　　　世界上第一台真正意义上的便携式XRD分析仪，凭借现场、快速、准确的分析优势，粉末振动技术(专利)和静止探测器的使用，Terra突破了传统XRD的结构； XRD与XRF的集成，大大提高了XRD的分析性能。 如果两种相同物质XRD的其他峰强度相同，而其中某些峰强度存在明显差异，则表明两种晶体的生长取向不同，可能会对形貌产生反应。

　　　　的特征利用x射线、二次电子、吸收电子、背散射电子及阴极荧光等信息，分析样品微区内( m范围内)的成分、形貌和化学键合状态等特征。 能谱和光谱主要性能的比较内容元素分析范围定量分析速度分辨率检出限WDS 4Be-92U徐高( 5ev 10-2(% EDS 4Be-92U。

　　　　锂( Li和铍( Be会产生x射线，但产生的特征性x射线波长过长，通常无法检测，少数电子探针现在可以以宽面间隔的皂化膜为衍射晶体检测Be元素。 Page 7 X射线物理学基础射线的物理学基础电磁波在波长短、具有波动性和粒子性的k层出现空位，处于k激发态； l层向k层迁移，l激发态； E=EL-EK，能量差以x射线光量子的形式放射x的束。

　　　　细聚焦电子束撞击试样表面时，入射电子和试样的原子核和核外电子产生弹性或非弹性散射作用。 材料逆向分析是当前材料研发中的重要手段也是材料研发中最经济有效的研发手段。 对材料进行x射线衍射，通过分析其衍射图样，得到材料成分、材料内部原子和分子的结构和形态等信息的研究手段。

　　　　根据入射光子的能量，被激发的电子-空穴对的数量不同。 例如，MnK能量为5.895keV，形成的电子-空穴对为1550个。 典型功能陶瓷沿晶断口二次电子像，断裂均沿晶界发生，有晶粒拉拔现象，晶粒表面光滑，还可见明显的晶界相。 在实际的衍射光谱中，强度并不仅仅出现在符合Bragg方程的两个地方，在2的附近也有一定的衍射强度分布，呈峰状，也称为衍射峰。

　　　　不导电的试样，如陶瓷、玻璃、有机物等，在电子探针图像观察、成分分析时，会出现放电、电子束漂移、表面热损伤等现象。 根据分析目的可分为相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。

　　　　扫描型显示系统用观察试样表面和图像的荧光屏( CRT同步地对电子束进行光栅扫描，将通过电子束和试样的相互作用而产生的二次电子、背散射电子及x射线等信号经过探针和信号处理系统发送到CRT，发送到图像或照片