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SEM如何看晶粒尺寸

站浪 调整文字大小:【      】 | 来源:站浪引爆流量第一站 | 作者:编辑部-洪思贤

| 2024年10月20日 01时34分22秒 阅读: | 分享至:

 

 

SEM如何看晶粒尺寸

SEM如何看晶粒尺寸

随着纳米技术的发展,材料的晶粒尺寸逐渐减小到nm、甚至下至单个纳米的尺寸,因此对晶粒尺寸的观测变得越来越重要。扫描电子显微镜(SEM)是一种常用的表征材料形貌和尺寸的手段,在晶体材料晶粒分析方面也具有一定优势。

SEM看晶粒尺寸的原理

SEM可以消除晶粒杂质的影响,直接观测到晶粒形貌并通过反射电子显微镜(SEM)颜色的变化确定晶体外形和尺寸。同时,也可以通过SEM图像反映出晶体的结构和晶粒边界位置,进而推断晶粒大小。

观察样品前的样品制备

SEM图像的质量和准确性取决于样品的质量,样品应该被制备成透明薄片或金属薄片。为避免表面折射和缩减晶粒的大小,在对样本做电导率的均一性结构处理的同时,也要防止样品过量的离子刻蚀,导致晶粒失真。

用SEM看晶粒尺寸需要注意的问题

观察晶粒尺寸的过程中,需要有几点注意事项:

1.观察样品需要保持适当的极化电压。如果电压太高,电子束将在样品表面发生超过规定层数的多次反射,影响晶体形貌的准确性。

2.使用碳带或聚偏二氟乙烯(PTFE)作为样品载体,这可以防止晶粒在样品上被拉长或变形。

3.密切观察样品在SEM下观察时的反应情况,尽可能减少样品对电子束的损伤。

结论

SEM是一种可靠的晶体尺寸测量技术。在采用SEM技术时,合理制备样品并遵守操作规范是保证测量结果正确的关键。涉及到晶粒尺寸问题的实验和研究项目,都可以在晶粒尺寸观测方面使用SEM,得到准确的结果。

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