Sem为什么能测形貌？

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| 2024年10月19日 15时25分30秒阅读：次 |

Sem为什么能测形貌？

仪器简介

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM），是一种利用电子束取代光学显微镜的高级显微镜，可以对物体表面进行高分辨率的非接触式成像。SEM成像是通过电子束的扫描扫描描照的方式得到图像，透过反射或散射的方式得到扫描物质的表面形貌信息，根据信号大小构成图像。它具有成像清晰、分辨率高、检测灵敏度高、可观察实验过程等特点，因而被广泛应用于物理、化学、材料、生物、医学等诸多领域。

SEM原理

SEM成像的原理是通过高能电子在样品表面发生相互作用，发出的不同形式的辐射，以及这些辐射与电子光束不断的相互作用，最终展示出样品表面的物理形貌。

SEM应用

SEM在材料科学中的应用非常广泛，如材料表面形貌、微观结构、晶体形貌、晶格结构和物相等，可以对各种材料（光学材料、涂层、金属材料、高分子材料等）进行形态和成分的分析和观察。

除了材料科学外，SEM还广泛应用于生物、医药、医学领域中。在生物学领域中，可以通过SEM观察胚胎发育过程、植物草皮的三维结构、紫外病毒的内在结构等；在医药、医学领域中，SEM可以进行细胞、组织等的形态学观察，对疾病的积累、转移、分化等进行分析。

SEM优点

与其他显微镜相比，SEM有以下几个优点：

分辨率高，可以观察样品的微观形貌和表面特征。

可以在不同角度下观察材料表面的形貌信息，特别是对于复杂的样品形貌有更好的解释性。

成像速度非常快，可以实时观察样品表面变化。

观察样品不需要处理。

总之，SEM是一种非常重要的科学仪器，广泛应用于物理、化学、材料、生物、医学等领域，可以帮助科学家们更好地理解和分析各种材料、生物、医学现象。

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