SEM 像怎么分析粒径？——一篇系统的指南

站浪调整文字大小：【大中小】 | 来源：站浪引爆流量第一站 | 作者：网络部-蔡佩圣

| 2024年03月12日阅读：次 |

引言

随着制造和科研的不断进步，对微观粒子的研究变得越来越重要。在这个背景下，扫描电子显微镜（SEM）因其高分辨率和高清晰度，已成为微观粒子表征的主要工具。在SEM的帮助下，可以对样品中的颗粒大小、形状、表面形态、分布等进行分析。

分析SEM图像中的粒径

SEM技术本身有一定的局限性。比如，对于复杂的样品中的颗粒，难以进行实时的三维、微观大小的测量。因此，我们需要一种较为善于处理复杂样品并且可重复性较好的处理方法。通过构建图像处理算法和建立数学模型，可以精确地描述和预测粒子的属性，特别是粒径大小。

基于面积，等效圆直径和视差原理的粒径分析

常用的SEM图像分析方法包括基于面积、等效圆直径和视差原理的粒径分析三种。其中，基于面积的方法在实际情况中使用最广泛。基于该方法，粒子像素数被转化为粒子面积，而粒子面积则被认为与粒子的真实面积成比例。因此，通过测量像素数，可以计算出粒子面积，从而推断出粒子的尺寸。

等效圆直径法是将一个圆形粒子的面积设为与待求粒子相等的面积，通过计算等效圆直径来确定粒子的大小。然而，与实际情况不同，该方法会将其他形状的颗粒误判为圆形颗粒，导致数据失真。

视差原理则是利用SEM成像过程中发生的视差原理，利用颜色对比、阴影，来测量粒子的大小、形状和方向。这种方法可以对具有复杂形状的样品进行研究，但对图像的质量要求较高。

结论

本文介绍了基于SEM技术进行粒度分析的三种方法，包括基于面积、等效圆直径和视差原理的粒度分析。在实际应用中，还需要根据样品特点和研究目的，选择不同的算法进行分析和处理。如何准确分析粒度是颗粒制造和品质分析中必不可少的一个方面，希望本文的内容能给您提供一些有益的帮助。

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