sem测量是什么意思，sem是什么仪器

　　　　sem测量是什么意思，sem是什么仪器

　　　　能谱仪( EDS )是通过测量高能电子轰击材料产生的特征x射线的能量来确定物质化学成分的分析仪器。 x射线衍射仪利用衍射原理，准确测量物质的晶体结构、织构和应力，准确进行物相分析、定性分析、定量分析。 一般来说，它经常被称为物相。 例如，氧化铝的大致物相有十几种。 只能用衍射法测定。 即使测定化学成分也无法测定差异。 EDS对几种元素的含量进行了测试，XRD测试了晶体结构。

　　　　XRD利用衍射原理，准确测量物质的晶体结构、织构和应力，准确进行物相分析、定性分析、定量分析。 要将此Untitled文件夹中的数据(视图或某种格式的数据)转换为word格式，需要专业软件(我不知道这个软件是什么)。 如果不是专家的话，应该不太了解什么是SEM检查。 SEM检查是Scanning Electron Microscope的简称，翻译成电子显微镜扫描检查。

　　　　简而言之，SEM用于观察微观形态，观察表面形态、断口、微裂纹等； EDS为检测元素及其分布，但无法检测到h元素； XRD可以观察组织结构，测定各相的比例、晶体结构等。 标准偏差的大小因测试而异。 如果一个测试是学术测试，标准差大，表示学生分数偏差大，可以衡量学生的学业水平。 某测试测试某一心理品质，标准差较小时，表示所作题目同质，此时标准差较小者为佳。

　　　　如果你和SEM一起测量的话)保存文件的文件夹里有Untitled文件夹，里面有你的数据。 这就是EDS的原始文件。 其结构是用非常细的电子束扫描试料，在试料表面激发二次电子。 二次电子的量与电子束的入射角有关，也就是说与试料的表面结构有关。 二次电子由检测体采集，在那里通过闪烁体转化为光信号，通过光电倍增管和放大器转化为电信号控制荧光屏上电子束的强度，显示与电子束同步的扫描图像。

　　　　SEM、EDS、XRD的区别SEM为扫描电镜，EDS为扫描电镜上微区分析成分的附件——光谱仪，用于材料微区成分元素的种类和含量分析，配合扫描电镜和透射电镜的使用一般采用无标样定量分析，主元素定量准确度高，相对误差在2%范围内，微量元素和微量元素相对误差较大。

　　　　EDS原理是各元素具有自己的x射线特征波长，特征波长的大小取决于能级跃迁过程中释放的特征能量e。 能谱仪利用不同元素的x射线光子特征能不同的特点进行成分分析。