sem呈现什么现象，sem主要解决什么问题

　　　　sem呈现什么现象，sem主要解决什么问题

　　　　例如，若显示器的画面尺寸为10cm，电子探针的扫描宽度为1mm，则放大倍率为100倍，若扫描宽度为10m，则为10000倍。 当样品不导电或导电不良时，样品表面多余的电子和游离粒子的积累不能及时传递，在一定程度上又会反复出现充放电现象( charging )，最终影响电子信号的传递，造成图像畸变、变形、晃动

　　　　对于块状导电样品，基本上不需要任何制备，只要大小适合电镜样品底座尺寸，可以直接用导电胶带将样品粘接在样品底座上，用扫描电镜进行观察。 为了防止伪像的存在，放置样品前用丙酮或酒精等清洗，必要时用超声波清洗机清洗。 放大倍率为m、人眼分辨率为0.2mm、设备分辨率为5nm时，有效放大倍率M=0.2106nm5nm=40000 (倍)。

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　　　　如图19所示，当电子入射到成分均匀的晶体样品时，利用背散射电子的强度随晶体方向的变化，可以通过图像观察晶体取向的差异。 所谓的电子通道对比度( Electron Channeling Contrast:ECC )如图20所示，是稍微倾斜结晶样品后对比度发生变化的一大特征。

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　　　　如图21所示，样品表面存在阶梯状的凹凸或尖细的突起物时，凹凸的边缘部分会变成一定宽度的明亮边缘而不是尖锐的线，或者突起物整体异常变亮的现象称为边缘效应。 为了忠实地再现样品的表面形貌，薄膜厚度尽量薄为宜，但样品表面形貌复杂，薄膜过薄无法形成连续膜时，往往会出现带电现象。

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　　　　当加速电压为10kV时，样品表面细节不丰富，部分图像存在拖尾现象；当加速电压为1kV时，不仅样品表面细节丰富，而且图像无拖尾现象。 目前，使用w灯丝的SEM，分辨率可达3nm-6nm，场发射源的SEM分辨率可达1nm。 SEM成像通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。 SEM成像通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。

　　　　Le Bel对秘鲁Santarosa斑岩铜矿中的石英包裹体进行了研究，其中发现了氯化钠、氯化钾、铁绿泥石等子矿物。 年，英国工程师Charles 0atley首先制造了扫描电子显微镜( SEM )。 失效分析是一门发展中的新兴学科，近年来开始由军工企业向一般企业推广，它一般是根据失效模式和现象，通过分析和检验，模拟再现失效现象，找出失效原因，挖掘失效机理的活动。