sem晶粒尺寸怎么算，如何从sem判断晶体的尺寸

　　　　sem晶粒尺寸怎么算，如何从sem判断晶体的尺寸

　　　　当晶粒小于10nm时，其衍射峰随晶粒尺寸的减小而明显扩展，也无法用XRD测量。 被测样品中的晶粒大小可以用Scherrer式( Scherrer式)计算。 席勒公式的应用方法DC=0.89/) bcos)为x射线波长，b为衍射峰半峰宽，为衍射角)采用双线法( Williams-Hall )测量金属晶体中的微观应力。

　　　　假设sheller方程假设试样中没有晶体结构不完整引起的宽化，则衍射线的宽化仅取决于晶块尺寸，且晶块尺寸均匀。 经过Basic Process数据处理后，得到衍射峰信息。 如下图所示。 用a.XRD进行晶粒大小计算时，由于以晶粒为球形为前提，其测量的粒径不太可靠，结果总是小于SEM和TEM，但当不能和TEM时，其结果仍然具有一定的参考依据。

　　　　文档格式：doc文档大小： 131.5K文档页数：每页顶/步数：0/0收藏人数： 0评论次数： 0文档热：文档分类：管理/人力资源- -管理资料文档衍射粉末晶粒大小的计算主要根据衍射图案的半高宽进行相关计算。

　　　　样品的衍射峰加宽可以用半峰宽表示，样品的半峰宽FWHM是仪器加宽fw(I )和样品性质)、晶块尺寸细化和微观应力的存在)、加宽fw(I )的卷积。 不，但是这个方法好像误差很大。 最直观的是制作透射型电子显微镜，用image j软件统计是正确的。 但是，我觉得报告的粒径不太准确。 而且，考试老师也让我自己计算，说一起计算不准确。

　　　　样品为退火状态的粉末时，此时不发生畸变，衍射线宽度化完全是由于样品的晶粒尺寸过小引起的，此时选择SIZE only。 因此，使用jade计算时，需要根据粉末的状态对应不同的计算方法，根据粉末的实际情况选择合适宽度的要素。 注意：晶粒大于100nm时，衍射峰的宽度对晶粒大小不敏感。 样品必须与被测样品的结晶状态相同，为无应力且结晶块尺寸未细化的样品，结晶粒度为25m以上，如NISTA60Si或LaB6等。

　　　　样品晶粒比普通晶粒小，或者晶粒内部存在微观应变会导致FWHM扩展，结果存在误差。 试样引起的宽度扩大包括结晶块尺寸的影响、不均匀应变(微观应变)、堆积位错(在衍射峰的高角侧引起长尾巴)。 摘要)样品的衍射峰加宽可以用半峰宽表示，样品的半峰宽FWHM是仪器加宽fw(I )和样品性质)、晶块尺寸细化和微观应力存在)、加宽fw )的卷积。