SEM一般要镀什么，SEM的用途

　　　　SEM一般要镀什么，SEM的用途

　　　　图3是蚀刻环上区域2的SE M照片，可以清楚地看到蚀刻环是由分散的蚀刻粒子堆积而成。 镀金接触表面形成的环形腐蚀物的SEM EDS分析林雪燕、章继高(北京邮电大学电接触科学研究室，北京100876本文主要论述了镀金接触表面经过长期室内自然腐蚀形成的腐蚀物结构、成分的SEM EDS分析结果以及微动接触电阻的实验结果。

　　　　但有些类型的样品不那么容易成像，需要增加样品制备才能获得高质量的图像，比如在样品上镀上金、银、铂、铬等厚度10nm左右的导电材料。 一般来说，如果不对横截面进行马赛克，可能会发生边缘倒角，因此需要进行马赛克才能观察横截面。 固定对微弱力非常敏感的悬臂梁的一端，另一端有微小的针尖，针尖原子与样品表面原子之间存在非常微弱的力，因此在扫描时进行控制。

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　　　　该方法测试的基本原理是选取待测样品具有典型代表性的区域，然后经过合理制作，制作出符合要求的横截面，最后通过SEM观察放大图像，测量镀层横截面的宽度，即镀层的厚度。 让我们看看电子显微镜的检查原理。 SEM原本是通过检测电子束撞击样品表面后的反射电子来观察材料的表面形貌。

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　　　　离子镀原理是在低气压系统中，气体分子在相隔一定距离的阳极和阴极之间的强电场作用下电离成正离子和电子，正离子向阴极，电子向阳极，在两个电极之间形成辉光放电，在辉光放电过程中保持一致。 最重要的是，涂层后的样品表面不是原始材料，而是涂层材料，导致原子序数对比度信息的丢失。

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　　　　暴露实验表明长期室内自然暴露的镀金样品基底为锡磷青铜合金( CA 511； 中间层为镀镍层，其厚度为1.55m； 表面为镀金层，厚度分别为0.48m和1.57m； 镀金接触表面粗糙度值在0.1~0.2m之间。 调整焦距，观察图像清晰度直至达到最佳状态，通常采用两次电子模式进行观察拍摄，便于区分镀层。 打磨和抛光是制作符合要求的横断面的重要工序，操作时必须充分重视。

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　　　　SEM收集二次电子和背散射电子； 由于二次电子和背散射电子的发射方向都在样品的上方，SEM的探测器也在样品的上方(我国以前对镀层质量和厚度没有控制要求，但目前对这方面的控制较为严格)。 生产厂家不仅要具备相关的检测设备，而且要采用有效的方法进行量的跟踪。 在高分子的情况下，高分子材料为了用SEM仔细观察，必须进行喷金处理。

　　　　实验分析结果2.1微孔腐蚀产物形貌的SEM观察结果：经过长期的室内自然腐蚀后，在镀金样品表面形成了许多腐蚀斑。 图1是通过SEM观察得到的镀金接触表面的甜甜圈状腐蚀物的B SE照片。