sem中的面扫是什么意思，sem面扫描可以看啥

　　　　sem中的面扫是什么意思，sem面扫描可以看啥

　　　　随着与样品中原子核或核外电子的非弹性散射次数增多，其能量和活动能力下降，是最终被样品吸收的入射电子。 吸收电子可以直接用电流计测量其他电子信号，使用电子收集器2的特性x射线信号，在x射线能谱仪中检测普通的电子收集器由3个部分组成的闪烁体，构成收集电子信号的光波导，按比例变换为光信号光电倍增管进行放大后，变换为电信号，构成增益1010 EDS对几种元素的含量进行了测试，XRD测试了晶体结构。

　　　　绝缘体或导电性差的材料时，需要预先在分析表面蒸镀厚度约10~20 nm的导电层。 用微米或纳米级测量扫描电子显微镜或透射电子显微镜内电子碰撞产生的x射线的能量，确定物质化学成分。 从大样本中确定采样部位； 2 .根据需要，决定通过切断还是自由断裂得到表面界面； 3 .清洗； 4 .包埋打磨、蚀刻、喷金处理、

　　　　基于二次电子图像(表面形貌对比度)分辨率高、不易产生阴影等诸多优点，扫描电镜成为应用最广泛的方式，尤其是在故障工件切面检测、磨损面观察以及各种材料形貌特征观察方面热阴极电子枪的最小束斑直径为6nm，场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。 第三个聚光透镜是弱透镜，有很长的焦距。 在这个透镜下放置样品可以避免磁场对电子轨道的干扰。

　　　　背散射电子像上的石墨条呈暗对比度，吸收电子像上呈亮对比度。 在样品表面平均原子序数高的区域，会产生强信号，在背散射电子像上显示出明亮的对比度。 本文介绍了荧光x射线分析的原理和发展概况，阐述了能量色散荧光x射线能谱分析o分析在元素定性和定量分析中的应用，并说明了其优越性和局限性。

　　　　原子序数对比度，又称化学成分对比度，是以对样品微区原子序数或化学成分变化敏感的物理信号为调制信号得到的微区化学成分差异的图像对比度。 铁锈在EDX分析时的典型特征是什么样的铁锈特征：红褐色粉末2，熔点： 1565(分解) 4，赤铁矿，赭石5，型晶胞结构：氧化铁为型晶胞结构，不具有磁性。 因此，即使对于复杂粗糙的样品面，也能得到清晰对焦的图像。

　　　　块状或粉末样品无需处理或稍加处理即可直接放入SEM进行观察，比透射电镜( TEM制样简单。 通过改变入射光束在样品表面的扫描宽度，改变扫描图像的倍率。 扫描型电子显微镜的最终透镜开口角小、焦距长、角小(约10-3rad，因此景深大。 由于二次电子信号主要来源于样品表层5-l0 nm的深度范围，其强度与原子序数无明显关系，适合显示形态对比度。