sem分析样品需要几个，sem分析样品需要几个单元

　　　　sem分析样品需要几个，sem分析样品需要几个单元

　　　　半高法的图4-14(a(p100页)是半高法的定位图像。 在k(1和k 2未分离的情况下，如图4-14所示，设连接衍射峰的谷底的线pq、以高峰的顶点m为横轴的垂直线mn，交叉pq为n、mn为峰值的高度。 制作PAN系碳纤维时，漂移现象可能有两个原因。 一个是样品不固定，另一个是导电性差。 应用：红外光谱分析可用于研究分子的结构和化学键，也可作为表征和鉴别化学物种的方法。

　　　　扫描电镜具有景深宽、倍率范围宽、分辨率高、综合分析能力强等优点。 试样因子：包括试样热容量、导热系数和试样纯度、结晶度或离子置换以及试样颗粒度、用量和填充密度、参照物的影响等。 包括金属切片、砂纸打磨、晶片打磨、压痕打磨、双喷电解和离子减薄、FIB制样(散装制样神器)。 通常使用微电网或铜网，捞起样品后放入样品前体，干燥后可放入电镜下测试。

　　　　在不破坏试样表面结构的情况下，对表面污染的试样进行适当清洗和干燥。 X射线能谱呈两种分布特征，一种为连续状分布，一种为陡状分布。 原理：扫描电镜利用电子枪产生的稳定电子束，以光栅扫描方式照射被分析样品表面，利用入射电子与样品表面物质相互作用对二次电子和背散射电子的成像，获得样品表面微观组织结构和形貌信息。

　　　　透射电子：透射过样品的电子反映了样品中电子束作用区的结构、厚度和成分等信息，是透射电镜的工作信号； 线分析：将探测器中的光谱仪固定在与某一元素的特性x射线波长或能量对应的位置，移动电子束，沿样品表面设定的直线扫描，即可得到该元素在设定直线上的浓度分布曲线。

　　　　扫描电镜是一种多功能的仪器，具有许多优良的性能，是用途最广的仪器。 可以进行纳米材料观察、材料截面分析、原始表面直接观察、厚试样观察、各区域细节观察、大视场低倍率观察、由高到低连续观察、生物试样观察、动态观察、形貌获取资料等基本分析。 扫描电镜的特点是： (1)识别能力强；2)有效放大倍率高)3)景深长)4)制样简单)5)电子损伤小)6)易于实现综合分析。

　　　　面分析：将谱仪固定在某一元素特征x射线信号(波长或能量)的位置，通过扫描线圈对电子束进行光栅扫描，用检测到的特征x射线信号调制荧光屏上的亮度，从而获得该元素扫描面内的浓度分布图像样品是否有磁性，原则上SEM扫描电镜不测量磁性样品，根据老师的经验，对拍摄样品中磁性强弱的接受度不同。