sem如何确定不同的物相

　　　　sem如何确定不同的物相

　　　　电子束与试件作用时，会产生二次电子、背散射电子、吸收电子、俄歇电子、微x射线等各种信号。 因为所有光束的强度是一定的，所以放大倍率大的话，通过透镜的电子束就会变少，相反电子束会变大。 答： XRD法适用于材料织构信息的整体测量，由于所测晶粒数达几个，可以对织构进行定量分析。

　　　　(衍射线宽度和晶体尺寸中=k/(dcos) (其中，为衍射线状半值宽度，d为反射面上的晶体尺寸的平均值，k为系数) )根据x-ray的实验数据测定衍射线的半值宽度，即可算出晶体尺寸d。 随着扫描电镜的发展和其他测试手段的发展，必将更有力地推动矿物学的扩展和发展。

　　　　原理：激光粒度仪是一种通过粒子衍射或散射光的空间分布(散射光谱)分析粒子大小的仪器，采用Furanhofer衍射和Mie散射理论，不受温度变化、介质粘度、样品密度和表面状态等多种因素的影响，将待测样品输入激光束俄歇电子能谱仪中，目前使用的定量分析法主要是相对灵敏度因子法，可以通过计算。

　　　　扫描电镜( SEM )利用一组特定的线圈以光栅形式扫描样品，收集散射的电子，放大再成像观察分析样品表面或切面的形貌。 而x射线能谱仪的扫描电镜可以直接观察矿物变化过程中发生的结构、形貌等微观现象变化和新矿物的形成特征，且能同时确定其化学元素组成和相对含量的变化，为研究矿物变化提供了良好的途径。

　　　　年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜。 电子束的波长比可见光和紫外光短得多，电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比。 也就是说，电压越高波长越短。 在某些条件下，由于其长程相关作用，晶体内局域原子的结构受到周期性调制波的调制，有很多材料。

　　　　添加PS刻度尺a。 打开图像，然后单击矩形工具b。 绘制矩形，填充黑色，加上单位和距离Image J，添加比例a。 打开图像，单击“直线”工具，绘制直线b。 点击Analyze，选择Set Scale，如下图所示设定c .

　　　　扫描电镜( scanning electron microscope )简称SEM，是1965年发明的一种较现代的细胞生物学研究工具，主要利用二次电子信号成像观察样品表面形貌。 也就是说，用极窄的电子束扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。

　　　　x射线物相分析的任务是用x射线衍射法对样品中由各种元素形成的具有固定结构的化合物(其中也包括单质元素和固溶体)、所谓的物相进行定性和定量分析。