为什么sem拍摄时有条纹，拍摄时出现条纹

　　　　为什么sem拍摄时有条纹，拍摄时出现条纹

　　　　在透射电子中，除了具有与入射电子相当的能量的弹性散射电子之外，还有各种能量损失的非弹性散射电子，其中除了受到特征性能量损失的非弹性散射电子之外，即特征性能量损失电子与分析区域的成分相关，因此存在特征性能量损失电子对于一定的元素，……都有一定的特征值，发射的x射线波长也有特征值，故称为特征x射线。

　　　　如果将入射电子流强度作为背散射电子流强度，作为二次电子流强度，则吸收电子产生的电流强度为。 sem测试玻璃表面起雪原因——sem测试玻璃表面起雪原因： 1、检查所有连接器端口，重新插入松动的连接器。 而且，在INLENS and SE2像下方存在这样的条纹图案，将降噪方式变为LINE，当N=12时情况好转。

　　　　此时，结晶内深度t处的合成振幅： a(t=sin(ts/s是从o点(结晶上面)以圆周方向的长度t的弧度张紧的弦(相当于op。 显然，该圆周的长度为1/s，是衍射振幅或强度振动的深度周期t g。 需要注意的是：只有晶体样品形成的衍射光栅像有明视场像和暗视场像之分，其亮度是明暗反转的。 也就是说，在明视野下是明线，在暗视野下是暗线，其条件是该暗线是由实际制造的操作反射斑引起的。

　　　　分散剂在扫描电镜样品制备中效果不明显，有时会产生相反的作用，如干燥时结晶等。 在最佳实验条件下，能谱的最低检出限在0.01-0.1%左右，距离ppm还有一段距离。

　　　　首先，电子波的波长非常短。 与之对应的阿世界球的半径变得非常大。 比地球大得多。 因此，与倒易晶格相交的地方接近平面。 (个人不承认这一点。 倒易光栅的矢量也变得非常大，所以必须满足布拉格的条件，记录时不可能制作这个大装置。

　　　　能量过滤的原理是电子在磁场中的偏转半径因能量(速度)而异)初中时经常进行的计算是电子的偏转半径在洛伦兹力作用下的问题)，根据位置加上slit，这样就过滤了能量。 在样品厚度足够大的情况下，如果入射电子不能透过样品，则透射电子电流=0，此时，入射电子电流可以表示为。

　　　　这是通常晶体取向衍射允许的最大偏离范围( s(1/t运动学理论引起的衍射强度随晶体取向变化的结果，也得到了实验证明。 即弹性变形薄膜晶体产生的弯曲消光条纹如下图所示，等厚消光条纹不沿晶体样品的倾斜面扫描，这是区分等厚条纹和等倾斜条纹的简单方法(见图)3)。 转而，沿着粒子和基体的界面扩展，根据情况的不同，A l 3 Ti粒子也发生断裂，龟裂贯通粒子而扩展。