sem可以检测什么粒子，sem可以测固体吗

　　　　sem可以检测什么粒子，sem可以测固体吗

　　　　SEM成像通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。 TEM :电子的透射能力较弱，透射电镜多使用几百千伏的高能电子束，但仍然需要磨细样品、稀释离子、使超薄切片达到微米级厚度，这是最基本的要求。 软件ProSuite扩展软件平台孔径统计分析测量系统粒子统计分析测量系统三维粗糙度重构系统要素分析丝面扫描纤维统计分析测量系统飞纳编程接口。

　　　　扫描电镜：电子束到达样品，激发样品中的二次电子。 二次电子由探测器接收，通过信号处理调制显示器上一个像素的发光。 因为电子束点的直径在纳米级，所以显示器的像素在100微米以上。 来自这个100微米以上的像素的发光，表示来自试料上的被电子束激励的区域的发光。 这里就扫描电子显微镜( SEM如何检测出不同种类的电子，以及它们能够提供的信息等进行说明。

　　　　例如，在透射电子显微镜( TEM下，如其名称所示，所检测的信号是透射样本的电子，其提供样本的内部结构的信息。 扫描电镜检测器通常有背散射电子( BSE检测器和二次电子(二次电子)检测器两种。 与较轻的铝原子相比，铜原子(更高的原子序数)会向探测器散射更多的入射电子，因此在SEM图像中显得更明亮。

　　　　年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜。 电子束的波长比可见光和紫外光短得多，电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比。 也就是说，电压越高波长越短。 俄歇电子能谱仪中，目前使用的定量分析法主要是相对灵敏度因子法，可以通过计算。 将双面胶贴在铜片上，将被测颗粒通过棉球直接撒在上面，用洗耳球轻轻喷上试样，去除附着的颗粒和不牢固固定的颗粒。

　　　　透射电镜拍摄的撞击荧光屏的电子是穿过样品的电子束中的电子，而扫描电镜拍摄的二次电子信号脉冲只能作为传统CTR显示器上调制CRT三极电子枪栅的信号。 粉末尺寸过大时，对衍射强度的测定结果有很大影响，但粒度过小时，不足1m时，会发生衍射线宽度化。 x射线衍射有三个级别。 x射线在一个电子中的散射强度、在一个原子中的散射强度。

　　　　冷冻电镜是指通过用于扫描电镜的超低温冷冻制样和转移技术( Cryo-SEM，可以直接观察对液体、半液体及电子束敏感的样品，如生物、高分子材料等。 背散射电镜探测器在药物粒子研究中的最大优点是材料的成分衬度像，即不同原子序数的粒子在BSE图像中表现出不同的亮度。 不同阳极靶元素原子序数与特征光谱波长的关系由莫尔条纹定律决定。