sem为什么产生立体结构，SEM结构模型

　　　　sem为什么产生立体结构，SEM结构模型

　　　　TEM样品多放置在直径3mm的200目样品网上，在样品网上多预先制作约20nm厚的支撑膜。 它们都是频率空间的二维矢量投影，是与结构因子有关的量，可以用于物相标定，但在衍射物理中意义不同，运算公式不同，不应混淆。

　　　　使用已知的晶格样品(金粒子)，在相同的电子显微镜状态下)高压)，对应几排相机长度，相机长度l为你说的0.4、0.8和1米，电子显微镜基本公式H=Rd=Ls，( h相机常数s按波长20世纪70年代，Jreskog结合了因子分析的可测性和路径分析的回归建模性。 例如，如果沿着晶体的生长方向是( 222，则( 111应该是生长方向。

　　　　新注意】Stata 12新功能：增加sem命令，符合结构方程模型。 扫描电镜( SEM用于观察组织、细胞或器官表面的立体微结构。 二次电子扫描像分辨率最高，与入射电子束直径基本相等，一般为6-10nm，背散射电子为50200 nm，吸收电子和x射线在100-1000nm处影响分辨率的主要因素有信噪比、杂散电磁场和机械振动等。

　　　　当原子内层的电子被激发产生空穴时，高能级的庭院迁移到该能级。 在原子内层的电子能级跃迁过程中释放的能量不是作为x射线释放出来的，而是用该能量发射出核外的其他电子时，就会脱离原子成为二次电子。 这个二次电子叫做俄歇电子。

　　　　这些二次电子不断安装闪烁体，产生可见光进入管后沿光电倍增器放大，输出电信号可达10mA左右，经视频放大器稍加放大后作为调制信号，最后显示在显像管荧光屏上

　　　　能谱检测极限能谱检测限为0.1%wt，一般称为含量10%的主体成分，1%wt为少量元素、0.1%微量元素，一般情况下，主体成分为5%相对误差，少量元素误差增大，轻元素采用特殊处理技术B、C、n、o、f、微量元素分析、0.5小孔直接衍射像(无透镜)是典型的Fresnel (菲涅耳)衍射)现象。

　　　　二次电子来源于距离表面5-10nm的区域，二次电子的逃逸深度小，在入射电子束中约为5，金属=1nm，非金属=10nm。 每次改变EDX成分分析结果的情况其实很简单，在能谱结果分析软件中，在View菜单下有Periodic table，根据其ROI情况选择需要定量的元素，用鼠标右键选择各元素需要定量的峰，重新定量即可