sem扫描的区域有多大，sem 扫描

　　　　sem扫描的区域有多大，sem 扫描

　　　　二次电子产生量与入射电子束和试料表面法线所成的角有关，倾斜角越大，越大。 但是，随着放大倍率的增加，在需要拍摄高分辨率的图像的情况下，用户需要减小束点直径以得到良好的图像，另外，如果增大束点直径，则电子束电流变大，试样的损伤增加，这种现象对电子束特别敏感，因此需要拍摄试样高分辨率成像需要将试样厚度控制在20 nm以下，一般直接捞取直径小于20 nm的粉体，粒子更大z包埋后离子变薄较好。

　　　　因此，为了准确地进行实验，需要了解不同的参数如何影响电子束的特性，并比较研究它们之间的利弊。 林恩的中场战争后，开始进入豆瓣的电影世界。 对于新用户来说，我特别喜欢豆瓣电影的电影评论。 关于看了让人印象深刻的电影，我用豆瓣做了调查。 即使是同一部电影，也想看到与自己感受到的不同的视点。 为什么这么说呢，因为每个观众都有不同的人生轨迹。 看事物的角度可能不一样。 因为那个差异会唤起思考。

　　　　SEM作为一种通用工具，方便用户对各种材料进行多种多样的分析。 另外，束斑直径——越大，电子束电流——越大，试样的损伤增加。 这一现象应该在对电子束敏感的试料进行成像时加以考虑。 观察下图1，为了在样品表面流通小的束斑直径和足够的电流，用户只要增大电子束的聚焦角即可。

　　　　直接观察大试样的原始表面：可以直接观察直径100mm、高度50mm或更大的试样，试样形状没有限制，也可以观察粗糙面，省去制作试样的麻烦，实际上可以观察到试样本身物质成分的不同对比度(背散射电子像) 一般分辨率可达0，1ev-1ev，主要用于获得元素含量，特别是轻元素含量。

　　　　用扫描电镜观察试样氧化层的厚度，如果是玻璃或陶瓷等可以直接劈开观察截面的金属材料，切割时样品的结构可能会发生变化，我们来看看是什么材料的氧化层。 能谱的分辨率在EDS中约为100200eV，在WDS中为510eV。 因为所有光束的强度是一定的，所以放大倍率大的话，通过透镜的电子束就会变少，相反电子束会变大。

　　　　分辨率影响SEM图像分辨率的主要因素有：扫描电子束光斑直径； 入射电子束在样品中的扩展效应； 操作方式及其使用的调制信号信噪比杂散磁场； 机械振动会引起光斑漂流等，降低分辨率。 用扫描电镜从高倍率到低倍率连续观察，倍率可变范围广，不需要经常对焦。

　　　　电子束和样品的作用有两种，一种是弹性碰撞，几乎没有能量损失。 另一种是非弹性碰撞，当电子束入射时，一部分能量传递给样品，产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、x光、长波电磁辐射、电子-空穴对等。