sem像衬度产生的原因，sem衬度原理

　　　　sem像衬度产生的原因，sem衬度原理

　　　　背散射系数随原子序数z的变化如图4-69所示(为二次电子产率)。 这是通过物镜光圈使多个衍射光束相互干涉成像的结果，图像的可识别详细情况取决于入射波被试样散射引起的相位变化、物镜的球面像差、散焦引起的附加相位差的选择。 在晶体电子束的照射下，某些晶面产生布拉格衍射，衍射产生的对比度干扰了复型表面形貌的分析； 复型材料的粒子尺寸必须很小。

　　　　对于表面平坦且原子序数不同的样品，减去a和b检测器的信号，当其合计信号为零时，将a和b的信号相加并倍增，此时得到的反射电子像只包含元素成分的信息，无法得到成分像，不会出现形态像。 但是，在扫描电镜下，样品后没有成像透镜，因此可以在不考虑色散的情况下获得比较清晰的图像。 因此，如果晶粒的方位不同，就会影响产生的信号量，可以通过收集并处理这些信号来表达不同的方位。

　　　　衍射对比度对于晶体，为了研究其内部缺陷和界面，需要将样品制成薄膜。 这样，在结晶样品成像的小区域中，厚度和密度几乎相同，没有厚的对比度。 r0=0.61/Nsinr0越小，镜头分辨率越高； -如果只考虑镜头的口径半角、衍射效果，在尽早照明光源和介质的一定条件下，口径角越大镜头的分辨率越高。 显微镜分辨率： d=0.61/(nsin)表明，显微镜分辨率与光的波长成正比。

　　　　由于作用体积的存在，残端峰、台阶、突出的第二相粒子上的图像特别明亮。 二、水泥石电镜观察未水合水泥浆中固体相硅酸钙水合物——C-S-H的胶体结构(1)硅酸钙水合物Calcium Silicate Hydrate缩写： C-S-H体积含量

　　　　在二次电子发射的馀弦分布规律中，检测器相对于a区域方位也比b区域有利，所以a区域的信号强度比b区域的信号强度大，在图像上a区域也比b区域亮。 例如，厚度或取向的微小变化，此时，衍射像中出现明暗相间的条纹，称为等厚或等倾斜消光轮轮廓； 如果没有厚度和取向变化的话。

　　　　在制备的断裂面样品中滴加几滴体积浓度为1%的棉乙酸戊酯溶液或乙酸纤维素丙酮溶液，使溶液12在样品表面平整，用滤纸抽吸多余的溶液，溶剂蒸发后，在样品表面留下100nm左右的塑料薄膜，用该真空系统为了保证电子的运动，减少与空气分子的碰撞，所有的装置都必须处于真空系统，一般真空度为10-2~10-4Pa。