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sem试验有哪些,SEM检验

站浪 调整文字大小:【      】 | 来源:站浪引爆流量第一站 | 作者:编辑部-王嘉琪

| 2024年09月21日 15时47分29秒 阅读: | 分享至:

 

 

    sem试验有哪些,SEM检验

  

    扫描电镜试样的制备需要去除表面油污、铁锈、切屑灰尘,对不导电的试样进行镀Pt或c; 吹风机。 此外,EDS还有几个特点。 x检测效率高,比较敏锐。 工作效率高,可以同时检测和计数所有元素的特征x射线光子能量,可在短时间内获得结果; 其内部无机械传动部分,稳定性和重复性好的X射线无需聚焦,对外观无特殊要求。

    x射线能谱分析原理x射线能谱定性分析的理论基础是Moseley定律,即各元素特征x射线频率的平方根与原子序数z呈线性关系。 分辨率是SEM最重要的性能指标,目前钨丝的SEM二次电子像分辨率为3nm~6nm。 但这不是日常工作所能实现的,是一种检测指标,与观察条件、图像亮度、对比度、信噪比有关。

    

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    有有效倍率m有效的概念。 这是将试样表面形貌的细节放大到人眼刚能识别的倍率。 m有效=人眼分辨率/SEM分辨率。 扫描电镜的优点是有较高的放大倍数,可在20-20万倍之间连续调整; 获得景深大、视野宽、立体感强的图像,可以直接观察各种样品凹凸表面的微结构; 制样简单。

    

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    SEM试验报告书文档良心出品》由会员共享,可以在线阅读。 更多相关《SEM试验报告文档良心出品(8页珍藏版)》请在人人文库网上搜索。 样品Labi扫描电镜和能谱仪的原理及应用实验目的1 .熟悉扫描电镜的结构和工作原理2 .熟悉制样要求3 .了解真空碳镀膜装置、真空镀膜装置的操作步骤和状态参数,了解扫描电镜的操作规程,熟悉二次电子像和背散射电子像的区别及应用

    

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    对于表面粗糙的端口试样,光学显微镜因景深小而无能为力,透射电镜对试样要求苛刻,即使使用复型试样也不可避免地出现伪像,而且景深也小于扫描电镜,用扫描电镜观察分析断口试样是其他分析方法设荧光屏的宽度As=100mm,As=5mm时,倍率为20倍,如果减少扫描线圈的电流,电子束在试样上的扫描宽度为Ac=0.05mm,倍率为2000倍。

    十、实际试验中常见问题1、分辨率是SEM最重要的性能指标。 目前,钨丝SEM二次电子像的分辨率为3nm~6nm。 由图可知,样品粒子大小分布较均匀,粒子大小在1m-2m之间,推测单个粒子大小较大是团聚的结果。 SEM试验报告一、实验目的1了解扫描电镜的用途、结构及基本原理; 了解双扫描电镜样品制备; 上机操作,用扫描电镜电子信号观察样品形态。

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