sem中探测器主要有哪些，探测试验有哪些

　　　　sem中探测器主要有哪些，探测试验有哪些

　　　　tem ( transmissionelectronmicroscope，透射电镜)具有高分辨率是半导体故障分析领域最常用的仪器之一，以高能电子束为光源，以电磁场为透镜，加速。 样品表面功函数的变化不仅与构成元素有关，还与区域结构有很大关系，这是SEM图像反映表面粗糙度的主要原因。

　　　　原子力显微镜的发明赋予科学界前所未有的分析能力，检测和操作材料表面的原子、分子不仅是梦想。 SEM成像与平行电子束的TEM不同，是通过在试料上扫描收集到的电子束来进行的。 与SEM不同，探测器位于样品下方，探测器接收透射电子束或弹性散射电子束，放大后在荧光屏上显示明场像和暗场像。

　　　　离子探针显微镜分析离子探针的学名为二次离子质谱仪( secondionmassspectroscopy---sims )，与电子探针功能相似，但用离子束代替电子束，用质谱仪代替x射线全世界的测试设备制造商埃德温测试( Advantest )发表了专门为晶片开发的新型多视角测量扫描电子显微镜( MVM-SEM )系统E3310，该系统可以在各种晶片上测量细小的针脚间距图案。

　　　　金相显微镜主要用于金属内部结构组织的鉴定和分析，是金属学研究金相的重要仪器，是工业部门鉴定产品质量的重要设备。 该设备搭载有摄像装置，可以拍摄金相图像，对图像进行测定分析，并编辑、输出、存储图像。 装置型号TF20配备场发射透射电镜、光谱仪2 .原理透射电镜( Transmission electron microscope，简称TEM )、透射电镜)，用于加速聚焦电子束。

　　　　透射电镜( Transmission electron microscope，简称TEM )称为透射电镜，它将加速聚焦的电子束投射到非常薄的样品上，使电子与样品中的原子碰撞并改变方向。 镜液晶热点探针( Liquid Crystal )扫描声学显微镜( SAM )扫描声学断层扫描( SCAT )原子力显微镜( AFM )实体显微镜( Stereomicroscope )显微光学显微镜。

　　　　显微镜的STM原理和AFM工作原理STM简介1982年，由国际商业机械公司苏黎世实验室的G.Binnig和HeinrichRohrer及其同事共同研究。 英孚精仪是一家进口精密仪器和实验室仪器设备的供应商，*是一家基于激光、成像等光子技术分析测试仪器的规模性进口商、代理商、服务商。