SEM与TEM有哪些联系，TEM与SEM区别

　　　　SEM与TEM有哪些联系，TEM与SEM区别

　　　　扫描电镜和透射电镜的工作原理扫描电镜( SEM )扫描电镜( SEM )使用一组特定的线圈以光栅图案扫描样品，收集散射的电子，放大再成像观察分析样品表面或切面的形貌。 用电镜(包括TEM )进行样品分析时，通常有两个目的。 一个是得到高倍率的电子图像，另一个是得到电子衍射图案。 TEM常用于研究纳米材料的结晶情况，观察纳米粒子的形貌、分散情况，以及测量和评价纳米粒子的粒径。

　　　　二、透射电镜tem ( transmissionelectronmicroscope )的工作原理是用电子束透射样品，经过聚焦和放大后产生的物象，投影到荧光屏或胶片上进行观察。 其中，两个主要的电镜为透射电镜( TEM )和扫描电镜( SEM )。 扫描电子显微镜( SEM ) SEM是利用细聚焦电子束扫描试样表面时激发的各种东西。

　　　　对于制作材料的伙伴来说，用SEM、TEM、金相显微镜等检测工具观察样品的组织形态是家常便饭。 TEM :电子的透射能力较弱，透射电镜多使用几百千伏的高能电子束，但仍需磨碎样品、稀释离子或超薄切片，使之达到微米级厚度，放在直径3mm的铜网上观察然而，扫描电镜( SEM )所能实现的宽视场( FOV )远大于透射电镜( TEM )，用户只能对一小部分样品进行成像。

　　　　从下图( a )的低分辨率TEM照片中，可以看到纳米银粒子大量分散的状态。 下图) b )和分辨率TEM照片显示，纳米银粒子的大小在20 (一)50nm之间，下图) b )和c )右上角的小照片为傅里叶变换后纳米银晶体的衍射图样。 电镜类(扫描电镜SEM、透射电镜TEM )照片大多以灰度为主，合适的尺寸、高分辨率、合适的黑白场、丰富的层次等是美丽电镜照片应具有的基本属性。

　　　　扫描电子显微镜( SEM )通常使用15KV以上的加速电压，透射电子显微镜( TEM )可以将其设定在60-30OkV的范围内。 SEM扫描电镜知识点的盲，光学显微镜以可见光为介质，电镜以电子束为介质，电子束波长长期小于可见光，因此电镜的分辨率远高于光学显微镜。

　　　　而透射电镜( TEM )是电子束穿透样品并经过聚焦和放大的物象，透射电镜( TEM )观察样品的内部微结构，如晶体结构、形貌等，扫描电镜( SEM )提供样品表面及其组成的信息然后，首先放入两张纳米球的TEM投影图。 (为了保护照片的所有权，这里在TEM图上打上了马赛克。 理工科的研究生在制图时经常需要使用标尺，特别是SEM/TEM、粒径图等。