SEM可以表征晶体什么，sem表征需要注意

　　　　SEM可以表征晶体什么，sem表征需要注意

　　　　纳米材料改变的不仅是光学性质，电学性质在纳米尺寸上也可能不同，部分导体材料有可能改变。 我想测定的元素原子序数小，b、n什么的，现在有用SEM测定的方法吗？ SEM可以在安装波长色散x射线能谱仪( WDX为光谱近似或能量色散x射线能谱仪( EDX后观察扫描形貌图像的同时，对样品的微观区域进行元素分析。

　　　　x射线光电子能谱技术( XPS是一种表面分析方法，广泛应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包埋、氧化等过程的研究。 扫描电镜磁畴观察是通过对样品表面预先化学腐蚀实现的，由于极性不同，畴的腐蚀程度也不同，可以通过采用腐蚀剂在铁电表面形成凹凸的显微镜下进行观察。

　　　　在拉曼光谱灵敏度不充分的情况下，可以用Au或Ag等金属处理试样表面，在这些特殊金属的导体表面或溶胶内，通过接近试样表面的电磁场的增强，吸附分子的拉曼光谱信号得到增强，称为表面增强拉曼散射( SERS。

　　　　扫描能谱后，继续步骤，具有确认元素和删除元素的功能。 在这个操作区域，你知道的，不影响你的测试结果，你又不想出现在测试数据表中的元素的去除，比如c； 也可以手动确认含量低的元素。 例如，我们检测ITO (氧化铟锡)时，锡的含量很低，最后需要手动确认。

　　　　在锂离子电池电极材料的表征中，原位技术与拉曼光谱一起用于电极材料的表征，因为分解和转移过程不可避免地会由于人为或环境因素干扰电极材料。 摘要：扫描电镜( Scanning ElectronMicroscope，简称SEM是继透射电镜) TEM之后发展起来的一种电镜。 目前x射线衍射(包括散射)的应用已经成为研究晶体和某些非晶材料微观结构的有效方法。

　　　　STXM可以实现无损的三维图像，为了解复杂的电极材料、固体电解质材料、隔膜材料、电极和电池提供重要的信息，且这些技术可以实现原位测试的功能。 扫描电镜的成像原理与光学显微镜和透射电镜不同，它以电子束为照明源，用光栅扫描方式对样品照射细小聚焦的电子束，生成与样品性质相关的各种信息，通过采集和处理得到微观形貌放大像。

　　　　扫描电镜( SEM是1965年以后迅速发展起来的一种新型电子仪器。 只使用SEM，不使用EDX时，能区分两种元素：铜( Cu和镍( Ni吗？ 也就是说，在未知样品中，仅根据SEM图就能够判别是铜( Cu还是镍( Ni？ (如果只有这两种可能性的话)。