sem用什么电子成像，sem图像是什么

　　　　sem用什么电子成像，sem图像是什么

　　　　秉承操作简便、快速成像、性能稳定的设计目标，泽攸科技自行研制出钨丝台式扫描电镜ZEM15。 二次电子是被入射电子敲击的原子的核外电子，(1)在能量小于50eV、固体试样中的平均自由程仅为10~100nm的浅表层，入射电子和试样原子只有有限次数的散射，因此几乎不向侧方扩散； 扫描电镜通常有三个聚光透镜，前两个聚光透镜是用于减小电子束斑点尺寸的强力透镜。

　　　　二次电子像分辨率为1.0nm (场发射)、3.0nm钨丝)； 背散射电子及二次电子的产生额随原子序数的增加而增加，但二次电子的增加不明显。 EDS原理是各元素具有自己的x射线特征波长，特征波长的大小取决于能级跃迁过程中释放的特征能量e。 能谱仪利用不同元素的x射线光子特征能不同的特点进行成分分析。

　　　　首先，要知道SEM只是为了测量样品的形态，不能进行成分测量。 但是，一般的SEM带有EDS才能进行成分测量。 那个检查被限制为0。 扫描电镜( SEM是1965年发明的主要用于细胞生物学研究的电镜，主要利用二次电子信号成像观察样品表面形貌。 也就是说，用极窄的电子束扫描样品，通过电子束和样品的相互作用产生各种效果。 其中主要。 扫描电镜广泛应用于岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究。

　　　　扫描电镜是20世纪60年代商用电子显微镜问世以来迅速发展起来的新型电子光学仪器，广泛应用于化学、生物、医学、冶金、材料、半导体制备、微电路检测等各个研究领域和工业部门。 根据上述特点，二次电子图像主要反映样品表面10 nm左右的形貌特征，图像对比度为形貌对比度，对比度的形成主要取决于样品表面对入射电子束的倾角。 我想测定的元素原子序数小，b、n什么的，现在有用SEM测定的方法吗？

　　　　l背散射电子是指被固体样品原子反射的入射电子的一部分，包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。 由于原子核和外层价电子的结合能小，外层电子容易远离原子。 SEM-EDS是扫描电镜和x射线能谱仪的简称，两者结合使用十分强大，可以在观察微区形貌的同时进行微区成分分析，在各种分析工作中得到广泛应用。

　　　　扫描电镜( SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的观察手段。 其作用是提供入射电子束在样品表面上和阴极射线管内电子束在荧光屏上的同步扫描信号。 例如，SEM-EDS为扫描电镜，配备微量分析谱仪，检测元素总种类和含量。