sem最小能测多少尺寸，sem尺寸标注

　　　　sem最小能测多少尺寸，sem尺寸标注

　　　　在进行扫描电镜( SEM )测试时，科学指南针检测平台的工作人员在与广大学生的交流中，很多学生对SEM测试知之甚少。 对此，科学指南针检测平台团队组织相关同行梳理网络海量知识，希望科研圈伙伴们给予帮助； Femtotools已经开发出基于微芯片的力传感技术，提供了无与伦比的测试性能。

　　　　这是因为背散射电子能量高于二次电子能量，远离样品表面沿直线轨迹运动，检测出的背散射电子信号强度低于二次电子。 在微观区域的成分分析中，分辨率是指可以分析的最小区域的图像，这意味着可以分辨两点之间的最小距离。

　　　　电子束从试样上某一点被激励的二次电子越多，输送到显像管栅极的电压越大，发射到荧光屏上的电子数量越多，该点越成为亮点，相反成为暗点； 由于二次电子的释放量取决于样品的表面形貌，阴极射线管荧光屏上的图像是样品表面形貌部分的放大图像。

　　　　由实例可知，突出的尖棱线、小颗粒及较陡的斜面产生的二次电子较多，荧光屏上这些部位亮度较大； 即使在平面上的二次电子产值小、亮度低的深槽的底部也会产生很多二次电子，但由于这些二次电子难以被检测器接收，槽的底部也会变暗。 注意： a、各元素均有特征能量值，俄歇电子能量一般为50~5000eV。

　　　　由于电子束一进入表面立即横向扩展，分析重元素时，即使束斑直径小，也无法达到高分辨率，这时二次电子和背散射电子的分辨率差会明显变小。 示例：在样品上的小山两侧，从与探测器相对的一侧的区域发射的二次电子可能无法到达探测器，此处的二次电子图像可能会产生阴影。 用ImageJ/Fiji测量(二) PS得到显微照片像素与微米长度的比例尺对应关系。

　　　　一种是通过x射线衍射或中子衍射进行宏观统计分析； 二是利用透射电镜( Transmission ElectronMicroscopy，TEM )中的电子衍射进行微区晶体结构分析； 三、利用扫描电镜SEM中的EBSD技术进行微区晶体结构和取向信息分析。 透射电镜样品必须在高真空中检测，水溶液中的纳米粒子不能直接测定。

　　　　电子探针的束斑尺寸小，电子探针的能量也比较小，而且由于采用光栅扫描方式照射试料，电子照射对试料的损伤和污染程度很小。 当入射电子束照射到一个多元素的样品表面时，由于不同原子序数部位的二次电子产量基体上相同，背散射电子较多的部位(原子序数大)吸收电子的数量较少，反而较多。