sem分析都有什么内容，sem的概念

　　　　sem分析都有什么内容，sem的概念

　　　　以上就是您提供的sem应该进行的数据分析。 希望能帮上忙。 加热后的钨丝发射电子，经栅极聚焦和阳极加速后，形成10 m~100 m的交叉点( Crossover )，经过二次聚焦透镜和物镜的聚焦作用，在样品表面形成小于1 m的电子探针。 电子束在试料表面扫描后，元素在试料表面的分布在CRT上表现为亮度分布(定性分析)。

　　　　由于二次电子信号主要在距离样品表层5~10nm的深度范围内，其强度与原子序数没有明显的关系，但对入射电子束的微区表面方向十分敏感，二次电子像分辨率比较高，适用于形貌对比度的显示。

1、sem分析都有什么内容

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　　　　元素发射的特征x射线具有不同的频率，即不同的能量，当不同能量的x射线光子进入锂漂移硅[Si(Li] )探测器时，在si[Li]晶体内产生电子-空穴对，类似液氮冷却探测器的低温

　　　　电磁透镜分为聚焦透镜和物镜，靠近电子枪的透镜称为聚焦透镜。 聚焦透镜一般分为两个阶段，将电子枪形成的10 m-100 m的交叉点缩小1 - 100倍后，进入样品上的物镜，物镜可以进一步缩小电子束聚焦样品。

　　　　试样中a元素的相对含量CA与该元素产生的特征性x射线的强度ia(x射线计数)成比例。 CAIA是在相同的电子探针分析条件下，通过同时测量样品和已知成分的标准样品中a元素的同名x射线(例如K射线)强度并进行修正计算，可以得到样品中a元素的相对含量CA )。

　　　　电子探针分析过程中一般不损伤试样，试样分析后可保存完好或继续其他方面的分析测试，这对文物、古陶瓷、古硬币及犯罪证据等稀有试样分析尤为重要。