sem分析只是确认表面吗，sem分析是什么意思

　　　　sem分析只是确认表面吗，sem分析是什么意思?

　　　　扫描电镜可以对金属、陶瓷、岩石等材料以及各种固体材料的微观形貌观察和微区元素成分、线分布、面分布等进行纳米技术、材料、物理、化学、环境科学等领域的分析。 但除WDS外，电镜还有EDS、XRF等其他附件，他们的共同特点是利用x射线进行元素含量和分布的测试，只是准确性、灵敏度、检出限不同，对相分析也没有多大帮助。

　　　　另外，扫描电镜和能谱仪( EDS )组合使用，可以在观察微观形貌的同时进行物质微区的成分分析。 因此，目前的扫描电镜不仅可以分析形貌，而且可以与其他分析仪器相结合，在同一台仪器上进行形貌、微区成分和晶体结构等多种微观组织结构信息的同位素分析。 使用细聚焦电子束在试样表面扫描时激发的各种物理信号，而不是用电磁透镜放大成像，像电视摄影的显影那样进行调制并成像。

　　　　为了确定故障PCBA上的1#MOS管是否有明显的漏电现象，对比测试了2#MOS管与1#MOS管引脚之间的半导体特性，发现1#MOS管引脚之间存在明显的漏电现象。 对各种器件断口形貌观察和不同区域成分分析表明，多种器件断口内存在明显的富Cl和富s黑色区，黑色区有明显的腐蚀特征，器件镀金脚往往有金剥落痕迹。

　　　　精品课件资料扫描电镜附件ebsd ( electronbackscattereddiffraction )用于晶体采集面分析、结构分析扫描电镜分析( SEM ) End *精品课件资料4 )疲劳断口的周期性交变应力破坏导电性好、试样成分均匀、表面非常平整、需要适当的标准定量等，但普通试样无法满足这些要求。

　　　　在同一区域进行RISE的拉曼面分布分析，对比识别拉曼光谱峰和数据中的光谱峰，结合EDS的分布数据，非常容易准确区分岩石中的各相，得到各相的分布。 扩大富Si区后，对EDS的元素分布和点扫描分析，发现富Si区EDS含量结果表明以Si为主，还有少量的c、o、Fe等。

　　　　观察结果表明，1#MOS管表面未见明显裂纹、破损、烧毁等明显异常，与2#MOS管表面形貌基本一致。 我们平时说的极少或微不足道的东西，在微观世界里，这种微小不能说是微小的。 头发的每一根截面也放大了，可以清楚地看到。 应用于微技术的常用单位是纳米( nm )。 不锈钢的裂纹区域，在低倍下进行EDS面扫描分析，发现了富含Si元素的区域。

　　　　以下是电镜- EMI技术在无机材料分析中的特殊应用解决方案，完整版可查看各节后链接：