sem晶粒大小怎么统计

　　　　sem晶粒大小怎么统计

　　　　去除小于0.1 m的121个晶粒后，样品a的平均结晶粒度为0.38 m。 对话框有四种缩放模式。 可以选择“在图上不显示比例”( On-Image or Non-destructive )。 最好不要在图上表示出来。 计算粒径时，软件将标尺上的字也作为粒子计算，输入标尺所表示的长度值) unit，点击OK按钮，将出现以下对话框

　　　　对于超细硬质合金WC晶粒的统计，实验中参数的设定和数据的分析必须考虑超细的特点。 imageproplus(IPP )的主要用途是分析和处理图像，它包含非常丰富的可扩展和测量工具，使用户能够为特定的APP应用创建宏和插件。 图6是每0.1 m区间200个晶粒的分布图，分布显示超细硬质合金样品a的晶粒集中分布在0.1~0.4 m之间。

　　　　粒径统计从电镜照片到数据照片——简单实用的小软件ImageJ (一)本文作者在多次实验的基础上，成功地将电子背散射衍射( EBSD )技术应用于超细WC-Co硬质合金WC的粒子尺寸统计。 此时，样品的结晶粒度利用式中d为晶粒尺寸、k为常数、为x射线波长、为试样宽度化、为半衍射角的Scherrer式进行计算。

　　　　图2 a的EBSD实验结果： a )是WC晶粒的取向图，用不同的颜色直观地表示了工作区内各WC晶粒的不同取向关系； B )为菊池带对比图( Band Contrast map，简称BC )，直观反映了EBSD标定结果质量的好坏，颜色越接近白色标定质量越好。

　　　　至此，这张透射照片的粒子分布统计工作基本结束了。 如果对IPP软件的数据制图效果不满意，也可以在Count/Size对话框的File下拉菜单中导出数据结果，用Origin等专业软件进行制图。 超细WC/Co硬质合金的物理和力学性能受WC晶粒尺寸及其分布的影响较大[89]，通过分析合金晶粒尺寸及其分布情况可以对合金进行性能评价、质量控制和工艺改进及性能提高。

　　　　电镜TEM，SEM粒径测量，分布统计，作图超详细教程——Nano Measurer。 摘要) Nano Measurer可以统计分析电镜照片颗粒的大小、长度、孔径等尺寸，可以导出和处理粒径分布计算的数据，界面简洁，使用方便。 相对B-1410样品，B-1440样品的WC晶粒在较高温度下烧结，晶粒尺寸增大，同时分布范围进一步扩大。

　　　　WC晶粒的统计方法比较表1表示以上方法对样品a的WC晶粒度的统计结果的比较。