sem如何往里面放样品，sem一个样品要多长时间

　　　　sem如何往里面放样品，sem一个样品要多长时间

　　　　进而点击切换按钮H/L，切换到高倍率模式，低倍率时用Coarse，高倍率时用Fine明确轮廓。 明场成像( Bright field image )一种在物镜后焦平面上，将透射光束通过物镜光圈截断衍射光束以获得图像对比度的方法。 例如，如果操作人员希望获取样品的表面信息，如粗糙度和污染物检测，则必须选择扫描电子显微镜( SEM )。

　　　　透射电镜将加速聚焦的电子束投射到非常薄的样品上，电子撞击样品中的原子，改变方向，引起立体角散射。 对于块状导电材料，除了大小适合仪器样品支架尺寸外，基本上不需要任何制备，样品支架上可以用导电胶粘接样品，用扫描电镜进行观察。 当阴极表面是用于电镀的材料(靶)时，将需要电镀的样品放置在作为阳极的样品台上，与正离子碰撞溅射的靶原子会堆积在样品上，形成一定厚度的镀层。

　　　　我们对镀金的形态有非常清楚的认识。 如果表面有石墨烯，金膜就会像被线覆盖一样。 c )由于物镜有较强的磁性，制备带磁性的试样时需格外小心，避免强磁场下试样被物镜吸入或分散到试样室中。

　　　　x射线照射晶体中的不同晶面，但晶面间距离的值远远小于LED球( x射线波长的倒数)，因此测量时衍射装置的半径和晶面间距离比为非常大的值。 因此，可以认为，即使不同晶面上的x射线重叠在一点上，x射线衍射的衍射角也非常接近布拉格角。

　　　　能量过滤的原理是电子在磁场中的偏转半径因能量(速度)而异) )初中时经常进行的计算是电子的偏转半径在洛伦兹力作用下的问题)，根据位置加上slit，这样就过滤了能量。

　　　　扫描电镜：电子束到达样品，激发样品中的二次电子。 二次电子由探测器接收，通过信号处理调制显示器上一个像素的发光。 因为电子束点的直径在纳米级，所以显示器的像素在100微米以上。 来自这个100微米以上的像素的发光，表示来自试料上的被电子束激励的区域的发光。 顺时针转动换样杆手柄至UNLOCK位置后，将样品夹持器插入换样杆，逆时针转动换样杆手柄至LOCK位置，锁定样品夹持器。

　　　　将dv调节为0，在z轴上调节样本的高度，使imagex的抖动最小化即可。 打开主电源开关主机绿色按钮3 .启动电脑，输入密码，打开SEM serve控制软件，打开样品室，放入样品，点击Pump抽真空( 3分钟左右)，真空标志为绿色

　　　　透射电镜：电子束与样品中的原子散射，同时通过样品上某点的电子方向不同。 这一点位于物镜1-2倍的焦距之间，这些电子通过物镜放大后再次会聚，形成一个个点放大的实像。 这和凸透镜的成像原理相同。