sem可以测晶粒尺寸吗，晶粒尺寸测量

　　　　sem可以测晶粒尺寸吗，晶粒尺寸测量

　　　　注意：晶粒大于100nm时，衍射峰的宽度对晶粒大小不敏感。 被测样品中的晶粒大小可以用Scherrer式(谢乐式)计算。 帖子1249扫描电镜的制样有两种方式，可以将粉末通过导电胶附着在样品台上，以后进行形态观察，也可以将样品分散在溶剂(一般为乙醇或水)中，滴加到锡箔覆盖的样品台上，以后进行形态观察。 计算方法被测样品中的晶粒大小可以用Scherrer公式(谢乐公式)计算。

　　　　另外，是否进行导电处理，需要注意晶粒的大小和使用的扫描电子显微镜的类型。 用分8733全面准确地表达粒子几何形态，需要统计粒度时，取截面、研磨，采用SE或BSE信号扫描电镜观察，采集图像，利用粒度分析软件，经阈值分割、二值化，提取目标粒子，自动几何对位

　　　　也可以测量帖子1649粉末。 你的样品不需要导电处理。 块体的话，只要你想要的粒子能够分布在表面就可以了，不需要研磨！ XRD可以表示整体，但不直观，半宽度等可能存在较大的测量误差。 2014-9-14目前扫描电镜配备的光谱仪也有粒度可选软件，可以对多种成分的粉末或粒子进行粒子形貌统计，同时识别成分，并按化学成分进行分类。

　　　　分析思路：相邻两晶粒可采用欧拉角分析、极图分析等，宽晶粒取向可采用极图或逆极图分析。 但是，用XRD计算晶粒尺寸的话，100nm以下好像是正确的。 超过100nm的话不是很准确吗？ 分析思路：主要通过分析方位分布图实现，不同颜色的晶粒表示不同的方位，晶粒形状大小能反映材料变形或再结晶情况，相邻晶粒角度决定晶界类型，用不同颜色表征晶界。

　　　　背散射电子衍射仪( EBSD ) :扫描电镜( SEM )附件之一，可提供晶界取向、晶界类型、再结晶晶粒、显微组织、相判别、晶粒尺寸测量等完整的分析数据。 这里，dhkl是与( hkl )晶面垂直方向的面间隔，n是该方向所含的晶胞数。 但是，这两者有最大的问题。 得到的晶粒尺寸可能不具有代表性。 也就是说，得到的晶粒尺寸可能只是你看到的一小部分，并不代表全部。

　　　　正空间中的小晶粒在倒易空间中可以看作一个球，衍射峰的峰宽较宽。 正空间中的小晶粒在倒易空间中可视为一个球，其衍射峰的峰宽较宽。 EBSD数据来自样品表面下方10-50nm厚的区域，且EBSD样品检测时需倾斜70，避免表面高处区域遮挡信号，使EBSD样品表面新鲜、清洁、平整，导电良好，应力