sem像中wd什么意思，sem中wd是什么意思

　　　　sem像中wd什么意思，sem中wd是什么意思

　　　　近年来，将免疫学方法和电镜技术相结合，形成了免疫电镜技术( Immunoelec-tronmicroscopy，IEM )，使抗原定位达到亚细胞水平。 观察高分辨率图像时，可以选择小于5mm的工作距离，与本机的Inlens探测器配合使用。观察粗糙的断裂面和大的植物样品时，选择10mm以上的工作距离，可以获得大的景深。

　　　　光圈像差( Aperture diffraction ) :电子束通过小光圈电子束会产生衍射现象，因此可以通过使用大光圈来改善。 扫描显微镜的重要特色之一是具有约为光学显微镜300倍的超宽景深( depth of field )，因此扫描显微镜适合观察表面起伏比光学显微镜大的样品。

　　　　散光一般采用散光补偿器( stigmator )进行与散光大小相同、方向相反的像差校正，目前电镜聚光镜和物镜分别有一组散光补偿器。 面像差是物镜的主要缺陷，难以校正。 由于偏离透镜光轴的电子束偏转较大，其成像点比电子束沿光轴成像的高斯成像平面( Gauss image plane )更接近透镜。

　　　　放样品的时候先放。 首先把样品放在很低的位置。 打开电子显微镜后调用图像可以看到wd值。 wd值可以自由调节。 大于1是安全的。 一般电镜必须有限位，不允许小到wd。 一般都有报警装置，警告说wd太小。 理论上，wd0安全吗？ 高分辨率电子显微镜通常是指用于观察薄试样相位衬度像(光栅像和结构像)的具有厚尺度分辨率的透射型电子显微镜。

　　　　电子束感应电流( Electron-beam induced Current，EBIC ) :如果电子束照射到一个p-n接合面( Junction )，则会产生过剩的电子-空穴对，在这些载流子扩散时p-n接合面背散射电子( Backscattered Electrons )入射电子与试料发生弹性碰撞，从试料表面逃逸的高能电子，其动能与入射电子的能量相同或稍小。

　　　　样品电流( Specimen Current )电子束照射样品时，一部分产生二次电子和背散射电子，另一部分留在样品中，样品接地后产生样品电流。 由于电子束与样品作用体积( interaction volume )的关系，特征x射线的产生与作用体积的大小有关，因此对于平面样品，EDS或WDS的空间分辨率受作用体积的大小限制。

　　　　背散射电子的产生量因样品元素的类型而异，样品中平均原子序数越高的区域，发射的背散射电子越多，背散射电子图像也越亮，因此背散射电子图像有时也称为原子序数衬图像。