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sem像怎么念,sem的意思

站浪 调整文字大小:【      】 | 来源:站浪引爆流量第一站 | 作者:编辑部-骆文馨

| 2024年11月17日 16时50分17秒 阅读: | 分享至:

 

 

    sem像怎么念,sem的意思

  

    图10 .二次电子像和背散射电子像( a )二次电子像) b )背散射电子像。 阴极发光( Cathodoluminescence )电子束引起的电子-空穴对复合时,会发射各种波长的电磁波。 这是阴极发光( CL ),并根据材料而发射不同颜色的光。 TM4000Plus可以将二次电子图像和背散射电子图像叠加实时显示,获得最多的样品信息。

    面像差是物镜的主要缺陷,难以校正。 由于偏离透镜光轴的电子束偏转较大,其成像点比电子束沿光轴成像的高斯成像平面( Gauss image plane )更接近透镜。 扫描电镜SEM; SEM特征SEM图像物理信号SEM的结构和工作原理SEM的主要性能SEM图像对比度SEM样品的制作; 扫描电镜的成像原理与透射电镜大不相同,不使用透镜制作放大图像,而是像CCTV系统那样,逐点扫描制作图像。

    

1、舒尔咪芯怎么样

    电子束和样品的作用体积( interaction volume )、作用体积有约数微米( m )的深度,其深度过宽呈梨状。 图像显示与记录系统的作用是将电信号转换成阴极射线管电子束强度的变化,得到亮度变化的扫描图像,同时采用照相方式记录或以数字形式存入计算机。

    

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    电子探测器有两种。 一个是闪烁计数器检测器( Scintillator ),常用于检测低能量的二次电子。 另一个是固态探测器)固态探测器,用于探测高能量的反射电子。 由于电子束与样品作用体积( interaction volume )的关系,特征x射线的产生与作用体积的大小有关,因此对于平面样品,EDS或WDS的空间分辨率受作用体积的大小限制。

    

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    背散射电子( Backscattered Electrons )入射电子与试料发生弹性碰撞,从试料表面逃逸的高能电子,其动能与入射电子的能量相同或稍小。 背散射电子的产生量因样品元素的类型而异,样品中平均原子序数越高的区域,发射的背散射电子越多,背散射电子图像也越亮,因此背散射电子图像有时也称为原子序数衬图像。

    

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    如图17所示,Regulus 8100的扫描电子显微镜包括减速加速电压的功能,可以选择较高的加速电压以稍微高的能量加速电子束。 当物镜极片即将在样品表面着陆时突然受到某相反电位的阻力使着陆电压下降时,不仅可以获得波长短、像差小、分辨率高的一系列优点,而且可以减少样品的损伤,即获得低电压高分辨率的图像。

    图10将同一样品区域的二次电子像与背散射电子像进行比较,发现二次电子像主要反映样品的形貌特征,背散射电子像在反映样品形貌特征的同时,也反映了样品的化学组成信息。

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