sem能扫描整个面么，sem面扫描可以看啥

　　　　sem能扫描整个面么，sem面扫描可以看啥

　　　　二次电子中，只有在距离样品表层5~10nm深度被激发的二次电子才能从样品表面逸出。 示例：在样品上的小山两侧，从与探测器相对的一侧的区域发射的二次电子可能无法到达探测器，此处的二次电子图像可能会产生阴影。

　　　　由于背散射电子信号强度背散射系数，在样品表面的平均原子序数高的区域产生强信号，在背散射电子像中显示出明亮的对比度； 而背散射电子发射量与试样表面形貌相同，利用背散射电子获得试样形貌，因此可以根据背散射电子像(成分像)明暗对比判别相应区域原子序数的相对高低，有助于金属及其合金的微观组织分析。

　　　　关闭舱门，点击“Pump”抽真空，等待软件下方图标变成绿色。 然后chamber关闭舱门，点击抽真空，关闭舱门抽真空，直到软件下方的图标变成绿色。 如果vacuum小于7e10-3，则可以操作机器。 图3. FusionScope对不锈钢样品微区进行电子成像，综合表征三维成像和磁学性能。

　　　　扫描线圈的作用是使电子束偏转，有规则地扫描试料表面。 电子束在试样上的扫描动作由同一扫描发生器控制，因此与阴极射线管电子束在荧光屏上的扫描动作同步。 这是因为背散射电子能量高于二次电子能量，远离样品表面沿直线轨迹运动，检测出的背散射电子信号强度低于二次电子。

　　　　探针：一般阅读si(Li )锂硅半导体探针的检测面积(几平方毫米分辨率) MnKa )~133eV检测元素范围) Be4~U92全文。 由于SEM的扫描线圈和阴极射线管的偏转线圈使用同一扫描电源，两者的电子同步扫描。 实际金属及其合金的解理不是沿一个晶面，而是沿一族相互平行、位于不同高度的晶面，即具有相同面指数的面不连续断裂，不同高度的解理面之间存在台阶，称为解理步骤。

　　　　扫描电镜比较及扫描电镜基础知识点图1 .扫描电镜外观图1、特点。 在SEM的电子显像管中，电子束同步扫描，荧光屏上各点的亮度根据样品激发的信号强度进行调制，因此样品上各点的状态不同，接收的信号也不同，反映样品各点状态的扫描电镜图像可见于显像管中扫描电镜房屋讨论区经验分享【求助】SEM扫描图的亮点是什么原因造成的？

　　　　注意： a、各元素均有特征能量值，俄歇电子能量一般为50~5000eV。 x射线能谱分析仪目前一般作为附件安装在扫描电镜和带附件的透射电镜中，由扫描电镜引导。 例如：钢在能量30keV、直径1m的电子束照射下，背反射电子的宽度约为2m，特征性的x射线的宽度约为3m。