sem对样品损伤大吗，SEM测试一个样品多久

　　　　sem对样品损伤大吗，SEM测试一个样品多久

　　　　由于不需要薄膜支撑，样品在分析时不会引入C、cu等噪声； 观察时也不会有胶片遮住样品的危险。 各样品主要通过离子束一点点切开样品侧壁，使其变薄至TEM可观察到的厚度。 式中Lm是荧光屏成像区域的边长(通常10 cm )，Ls是试料上电子束扫描区域的边长。

　　　　其一，是因为样品制备的成败决定了分析整体的成败； 其二，样品的好坏影响分析结果的准确性和充分性； 其三，在分析过程中，样品制备所需时间在周期时间中占最大比重，在生产中，周期时间是关系到工厂成本和效益的重要因素。 与扫描电镜不同，透射电镜通过样品的电子即透射电子来反映样品的内部结构信息。

　　　　信号检测系统包括信号检测器、信号放大处理装置和显示装置，样品检测由电子束激励的各种信号电子，放大后转换为用于调制图像的信号，最终在荧光屏上显示出反映样品特征的图像。 如果扫描过程中采集到的信号电子数量过少，仪器和测试环境的噪声过大，信噪比过低，显示屏会出现雪一样的噪声，掩盖了样品图像的细节。

　　　　配置专用的样品台，如冷却台、加热台、拉伸台，可以在电镜样品室内对样品进行加热、冷却、拉伸、压缩、弯曲等操作，通过SEM实时观察样品的形貌、成分等变化。 二次电子一般在表层5~10 nm的深度范围内发射，对样品的表面形貌非常敏感，能够非常有效地显示样品的表面形貌。 而囊泡、凝胶、生物样品等特殊样品在干燥过程中结构会发生变化，常规扫描电镜无法观察样品的真实结构。

　　　　图4.7左图为样品2的镀金后AFM图像，右图为样品4的SEM照射后的镀金AFM图像( 4.3.2特殊金形态的SERS研究金的SPR共振波长在红/红外区，因此镀金不放大SEM电子束照射的作用。 以下，对石墨烯的样品进行镀金处理后进行SEM照射。 当阴极表面是用于电镀的材料(靶)时，将需要电镀的样品放置在作为阳极的样品台上，与正离子碰撞溅射的靶原子会堆积在样品上，形成一定厚度的镀层。

　　　　但是，由于与之相同的配对会导致对试样e内的损伤，因此通常在30Kv的加速电压下观察a Sl的疲劳极的图2-6 .离子源概念图。 TEM样品厚度宜小于100nm，过厚则电子束难以穿透，分析效果不佳。 当电子入射到试料时，试料中原子内壳层的电子迁移被激发，形成空穴。

　　　　高分子材料一般具有较高的电阻值和较差的导热性，当高能入射电子束持续扫描样品表面时，样品容易发生电荷效应，容易受到热损伤，这些都会对扫描电镜的观察产生不利影响。