sem电镜测试是什么，电镜sem检测

　　　　sem电镜测试是什么，电镜sem检测

　　　　如果不是专家的话，应该不太了解什么是SEM检查。 SEM检查是Scanning Electron Microscope的简称，翻译成电子显微镜扫描检查。 扫描电镜样品制备的主要要求是尽量保存样品表面结构，无变形和污染，样品干燥且有良好的导电性能。 在末级透镜上的扫描线圈的作用下，对电子束在试样表面进行光栅扫描(线扫描帧扫描)。

　　　　扫描电镜主要用于材料形貌/尺寸的观察与分析、有镀层材料膜层分析、材料微区EDS元素分析、细胞观察，同时在材料失效分析时进行元素测定、金相分析等。 利用加载在晶体两端的偏压收集电子-空穴对，经过前置放大器转换为电流脉冲，电流脉冲的高度取决于n的大小。

　　　　扫描电镜优点：1.有较高倍率，可在20-20万倍之间连续调整； 2 .获得景深大、视野宽、立体图像，可以直接观察各种样品凹凸表面的微结构； 3 .制样简单。 目前的扫描电镜配备有x射线能谱仪，通过该仪器可以同时进行微观组织外观观察和微观领域成分分析，是目前非常有用的科研仪器。

　　　　扫描电镜的优点是有较高的放大倍数，可以在20-20万倍之间连续调整； 获得景深大、视野宽、立体感强的图像，可以直接观察各种样品凹凸表面的微结构； 试样制备简单。 目前的扫描电镜配备有x射线能谱仪，通过该仪器可以同时进行微观组织外观观察和微观领域成分分析，是目前非常有用的科研仪器。

　　　　目前，扫描电子显微镜(扫描电子显微镜SEM )常用于微观位置或微观形态的观察。 位于透射型电子显微镜和光学显微镜之间的观察手段。 EDS光谱分析是在x射线光子进入探测器后，在Si晶体内激发一定数量的电子空穴对。 电镜概念扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的微观外观观察手段，可以直接利用样品表面材料的物质性能形成微观图像。

　　　　当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时，电子与元素原子核及外层电子发生一次或多次弹性和非弹性碰撞，部分电子反射到样品表面，但剩余电子渗透到样品中，逐渐失去其动能，最后停止运动，被样品吸收。 图a .扫描电镜原理图； b .扫描电镜电子信号图像。 扫描电镜除了可以检测二次电子图像外，还可以检测背散射电子、透射电子、特征性x射线、阴极发光等信号图像。

　　　　扫描电镜( SEM )是介于透射电镜和光学显微镜之间的微观外观观察手段，可以直接利用样品表面材料的物理性能形成微观图像。 二、实验技术原理扫描电镜是将电子枪在加速高压作用下发射的电子通过多级电磁透镜聚焦成细小的电子束。