tem和sem做什么分析，简述sem和tem的工作原理区别

　　　　tem和sem做什么分析，简述sem和tem的工作原理区别

　　　　当前位置：文档仓库现代测试分析技术SEM、TEM、表面分析技术、热分析技术。 但是，TEM也有自己的缺点。 一个是制样问题，技术难度大，观察点定位困难。 从手工抛光，到机械切割、磨削，如今有些事情需要借助聚焦离子束刻蚀才能完成。 二是分析周期长，一般的商业分析服务周期为一周左右；三是TEM的成本大大高于SEM的成本。 二次电子像分辨率为1.0nm (场发射)、3.0nm钨丝)；

　　　　由a图可知，DHCSs中两壶间的间隔为50-100nm； b、c和a图对比表明，高温硫浸渍后制备的DHCS-S纳米复合材料具有与DHCSs相似的形貌和结构。 如何缩放ps图层尺寸_【无机纳米材料科研制图——Photoshop 0404】ps序列扫描透射电镜照片TEM/STEM .

　　　　很久以前就有人研究过在通气环境下用电子光学原理观察样品形貌的成像原理，完整的ESEM技术创立于80年代，其中澳大利亚的Danilator和英国的Farley不Shah在成像机制和电镜技术上做了很少的工作因此，即使电子束光斑小，也不能达到高分辨率，背散射与二次电子之间的分辨率明显降低。

　　　　在要求更小的分析需求和更高的精度的情况下，需要进行TEM分析，在需要得到样品的内部结构的情况下也需要选择TEM。 另外，需要获得体内信号、结构信号，便于制样，制样周期短，保存有需要无损分析的试样表面结构，无形状和污染，试样干燥且具有良好导电性的，宜使用SEM。 对于分析形貌和成分两方面的样本：利用一对检测器检测同一点的背散射电子，对信号进行处理，将两个信号合并为成分像； 减法是一种形态。

　　　　保存时快速检索文件10秒处理扫描和透射电镜图像标尺： Photoshop快速处理电镜图像。 从下图( a的低分辨率TEM照片中，可以看到纳米银粒子大量分散的状态。 下图) b和分辨率TEM照片显示，纳米银粒子的大小在20 (一)50nm之间，下图) b和c右上角的小照片为傅里叶变换后纳米银晶体的衍射图样。

　　　　透射电镜( TEM可以为用户提供更多的分辨率和多功能性，但它们比扫描电镜更昂贵、更大，需要更多的操作技术和复杂的预制样准备才能获得满意的结果。 Z47时，背散射电子产值随样品原子序数的增大而增加。 因此，在样品上原子序数高的区域，会产生强信号，荧光屏上的图像变亮。 据此，可以根据背散射电子像的明暗对比判断相应区域原子序数的相对高低，并对金属及其合金进行化学成分的定性分析。