sem表征什么仪器，sem是什么仪器

　　　　sem表征什么仪器，sem是什么仪器

　　　　电镜是一种电子光学微观分析仪器，聚焦微电子束照射样品，在待测微区产生不同的信息，收集整理，分析得到材料的微观形貌结构和化学成分等有用信息。 例如，透射电子显微镜tem扫描电子显微镜sem和电子探针对epa的分析等。

　　　　石墨烯的表征主要分为图像系统和图像系统，图像系统以光学显微镜、透射电镜( TEM )、扫描电镜( SEM )和原子力显微镜分析( AFM )为主，图像系统为拉曼光谱( Raman )、红外光谱( x射线光电子能谱)、x射线光电子能谱( xpm ) 随着溶胶法制备石墨烯膜的出现和非支撑石墨烯膜器件特性的改善，TEM最近成为表征悬浮石墨烯结构表征的有利工具。

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　　　　因此，XPS已经发展成为表面元素分析、化学态和能带结构分析以及微区化学态图像分析等强大的表面分析仪器。 除了以上的检测技术之外，在电子和材料相互作用时也可以产生光信号，这通常被称为阴极发光( CL )。 首先，CL可以检测出释放能量范围0.5-6eV，可以表示材料的成分、晶体结构、电子能带隙。

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　　　　SEM也可用于表征石墨烯的形态。 这是因为SEM图像的颜色和表面的皱纹几乎反映了石墨烯的层数。 目前红外光谱在石墨烯研究中主要用于定性表征，对其定量表征还未见报道。 其中，TEM、SEM、Raman、AFM、光学显微镜一般用于判断石墨烯的层数，而IR、XPS、UV可以表征石墨烯的结构，监测石墨烯的合成过程。

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　　　　扫描电镜( scanning electron microscope )简称SEM，是1965年发明的一种较现代的细胞生物学研究工具，主要利用二次电子信号成像观察样品表面形貌。 也就是说，用极窄的电子束扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。 将硅的厚度调整为90nm或300nm，在波长550nm时反射光强度达到最大，人眼的灵敏度也达到最大。

　　　　商家入驻类型：欢迎大专院校、研究所、第三方检测和企业将大型科研仪器( 3万元以上)入驻集成网； 同时欢迎解码专家，试验台加工厂及仪器维修商入驻。 二次电子一般在表层5~10nm的深度范围内发射，对样品的表面形貌非常敏感，能够非常有效地显示样品的表面形貌。 扫描电镜是一种多功能的仪器，具有许多优良的性能，是用途最广的仪器。 可以进行以下基本分析。