sem测的断面是什么意思，SEM测的是什么

　　　　sem测的断面是什么意思，SEM测的是什么

　　　　该样品区域的放大图像可以通过使电子束对样品的某个区域进行光栅扫描，根据几何排列与调制显示器的像素亮度相对应来实现。 透射电镜样品位于电子束中间，电子源从样品上发射电子，通过聚光镜，然后通过样品后，后续电磁透镜继续扩大电子束，最后投射到荧光屏上； 扫描电镜样品位于电子束末端，电子束源发射到样品上，经过几级电磁透镜缩小到达样品。

　　　　扫描电镜下粉末样品的制备多采用双面胶干燥法样品，也多采用超声波湿法样品，采用合适溶液。 本网站为文档C2C交易模式，用户上传的文档直接下载给用户。 本网站是一个中间服务平台，通过下载本网站所有文档获得的收益归上传者(包括作者)所有。

　　　　透射电镜：电子束与样品中的原子散射，同时通过样品上某点的电子方向不同。 这一点位于物镜1-2倍的焦距之间，这些电子通过物镜放大后再次会聚，形成该点的放大实像。 这和凸透镜的成像原理相同。 但某些材料的晶界破坏表现出较大的延性，断口除呈现晶界破坏的特征外，还有细小的孔洞。

　　　　但是，当材料在没有发生普遍屈服的情况下发生断裂时，断口两侧的微小区域发生变形，尽管存在大量的微小凹坑，但作为构件整体来说是脆性破坏。 当材料在普遍屈服情况下发生断裂，即韧性断裂时，其断口必须为微坑集合型。 特别是表面形貌观察(特别是断口)； 立体感强，层次丰富，景深大2，分辨率高，几十甚至15。 解理步骤理论上在单个结晶块内解理断裂应该是在一个平面上。

　　　　用扫描电镜观察试样氧化层的厚度，如果是玻璃或陶瓷等可以直接劈开观察截面的金属材料，切割时样品的结构可能会发生变化，我们来看看是什么材料的氧化层。 高分辨率拍摄时，试样厚度宜控制在20 nm以下，直接捞取直径小于20 nm的粉体，若颗粒更大，包埋后离子宜变薄。

　　　　疲劳核心区：疲劳裂纹最初形成的地方，一般来源于零件表面应力集中或表面缺陷的位置，如表面槽、孔、过渡小圆角、刃痕和材料内部缺陷，如夹杂、白点、气孔等。 疲劳断口从宏观上看，疲劳断口可分为疲劳核心区、疲劳裂纹扩展区、瞬时断裂区3个区城。 根据作用在金属材料上的应力状态，韧性断口在材料普遍屈服时发生断裂，即出现韧性断口，该断口必须为微凹坑组合型。

　　　　主要介绍了几种典型的断口形貌及其扫描电镜图像特点，有助于分析这些断口的断口机理。 一、根据实验方式划分(应力方式)拉伸断口( duNK(u )冲击试样断口( duNK ) u )疲劳断口( duNK ) u )。 二、按韧性、脆性分类韧性断口(杜duNK(u )脆性脆性脆性断口)杜NK ) 4u )。